[发明专利]阵列图形检测的方法和装置有效
| 申请号： | 201210302723.8 | 申请日： | 2012-08-23 |
| 公开（公告）号： | CN102928434A | 公开（公告）日： | 2013-02-13 |
| 发明（设计）人： | 许杰 | 申请（专利权）人： | 深圳市纳研科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/88 | 分类号： | G01N21/88 |
| 代理公司： | 深圳市中联专利代理有限公司 44274 | 代理人： | 李俊 |
| 地址： | 518026 广东省深圳市福田区深*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种阵列图形检测的方法，包括：根据预设的图形几何参数，提取当前帧中阵列图形的实际图形几何特征；判断实际图形几何特征与预设的图形几何参数的特征是否一致，若是，则存储当前帧中的阵列图形；若否，则将当前帧中的阵列图形与之前所存储的比较图形进行对比，根据对比结果输出缺陷位置。本发明还提供了相应的装置。采用本发明所公开的方案，无需通过任何模板，也不需要对阵列图形进行精确匹配，即可实现对阵列图形缺陷的提取；并且能够减少阵列图形的检测过程中误判发生的情况，从而使得检测效率高，适合在线检测要求。 | ||
| 搜索关键词： | 阵列 图形 检测 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种阵列图形检测的方法，其特征在于，包括：根据预设的图形几何参数，提取当前帧中阵列图形的实际图形几何特征；判断所述实际图形几何特征与所述预设的图形几何参数的特征是否一致，若是，则存储当前帧中的阵列图形；若否，则将当前帧中的所述阵列图形与之前所存储的比较图形进行对比，根据对比结果输出缺陷位置。
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