[发明专利]阵列图形检测的方法和装置

说明书

技术领域

本发明涉及到图形检测领域，特别涉及到一种阵列图形检测的方法和装置。

背景技术

随着大规模工业生产的发展，对产品质量的控制要求越来越高，传统利用人眼对产品进行检测的方式已远远不能满足现代工业生产的需求，利用机器视觉取代人眼来对产品进行缺陷检测以及质量控制已经是大势所趋，而在多种类型的工业产品中，存在大量重复性阵列图形的产品占有相当大的比重（例如曝光后的液晶面板）。

目前常用的两种针对阵列图形缺陷检测有两种方法：

方法一：阵列图形单元模板匹配法：利用单一阵列图形单元的完好图像或者CAD图形作为标准模板，与待测阵列图形产品中每一个单元进行比较，存在缺陷的区域由于与标准模板不同而被检测出来。但是，采用这种方法，由于标准单元模板单一，因此对产品中细微变化的适应性比较差，极易发生将正常区域识别为缺陷造成误判的情况。

方法二：全局模板匹配法：利用完整产品的完好图像或者CAD图形作为标准模板，与整个待测产品进行比较，存在缺陷的区域由于与模板不同而被检测出来。但是，采用这种方法，由于模板单一，对产品细微变化等变化敏感，特别是在光照条件的变化以及产品出现细微变形的情况下，对图像采集一致性要求高；并且模板需要与采集的图像精确配准才能得到正确结果。

发明内容

本发明的主要目的为提供一种阵列图形检测的方法和装置，旨在实现无需任何模板，也不需要精确匹配即可实现对阵列图形的缺陷提取；并且能够减少阵列图形的检测过程中误判发生的情况，从而使得检测效率高，适合在线检测要求。

本发明提供一种阵列图形检测的方法，包括：

根据预设的图形几何参数，提取当前帧中阵列图形的实际图形几何特征；

判断所述实际图形几何特征与所述预设的图形几何参数的特征是否一致，若是，则存储当前帧中的阵列图形；

若否，则将当前帧中的所述阵列图形与之前所存储的比较图形进行对比，根据对比结果输出缺陷位置。

优选地，在执行所述根据预设的图形几何参数，提取当前帧中阵列图形的实际图形几何特征之前，还包括：

根据阵列图形的速度和准确性要求，设定用于与当前帧中阵列图形进行比较的图形几何参数。

优选地，当判断出所述实际图形几何特征与所述预设的图形几何参数的特征一致时：

判定所述当前帧为正常帧，存储当前帧中的阵列图形，作为用于与存在缺陷的阵列图形比较的比较图形。

优选地，当判断出所述实际图形几何特征与所述预设的图形几何参数的特征不一致时：

判定所述当前帧的阵列图形存在缺陷，将所述阵列图形与之前所存储的比较图形进行对比；

根据对比结果，提取出缺陷位置在所述阵列图形中的位置；

输出所述缺陷位置。

本发明还提供一种阵列图形检测的装置，包括：

提取模块，用于根据预设的图形几何参数，提取当前帧中阵列图形的实际图形几何特征；

判断模块，用于判断所述实际图形几何特征与所述预设的图形几何参数的特征是否一致；

存储模块，用于若是，则存储当前帧中的阵列图形；

对比及输出模块，用于若否，则将当前帧中的所述阵列图形与之前所存储的比较图形进行对比，根据对比结果输出缺陷位置。

优选地，阵列图形检测的装置还包括：

设定模块，用于根据阵列图形的速度和准确性要求，设定用于与当前帧中阵列图形进行比较的图形几何参数。

优选地，所述存储模块用于：

当判断出所述实际图形几何特征与所述预设的图形几何参数的特征一致时，判定所述当前帧为正常帧，存储当前帧中的阵列图形，作为用于与存在缺陷的阵列图形比较的比较图形。

优选地，，所述对比及输出模块包括：

对比单元，用于当判断出所述实际图形几何特征与所述预设的图形几何参数的特征不一致时，判定所述当前帧的阵列图形存在缺陷，将所述阵列图形与之前所存储的比较图形进行对比；

提取单元，用于根据对比结果，提取出缺陷位置在所述阵列图形中的位置；

输出单元，用于输出所述缺陷位置。