[发明专利]含Pr的闪烁体用单晶及其制造方法和放射线检测器以及检查装置无效
| 申请号： | 201210270265.4 | 申请日： | 2005-11-07 |
| 公开（公告）号： | CN102888653A | 公开（公告）日： | 2013-01-23 |
| 发明（设计）人： | 吉川彰;荻野拓;镰田圭;青木谦治;福田承生 | 申请（专利权）人： | 东北泰克诺亚奇股份有限公司;古河机械金属株式会社 |
| 主分类号： | C30B29/28 | 分类号： | C30B29/28;C09K11/79;C30B11/04;C09K11/80;C09K11/00;G01T1/20;C09K11/08;G01T1/202;C09K11/78 |
| 代理公司： | 隆天国际知识产权代理有限公司 72003 | 代理人： | 宋晓宝;郭晓东 |
| 地址： | 日本国宫*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明提供一种用于X射线CT、放射线透过检查装置的，具有极高发光量的氧化物闪烁体单晶，具体地说，提供含Pr的柘榴石型氧化物单晶、含Pr的钙钛矿型氧化物单晶以及含Pr的硅酸盐氧化物单晶，其特征在于，它们均能够检测出被推测为伴随Pr的5d－4f之间的迁移而引起的发光。 | ||
| 搜索关键词： | pr 闪烁 体用 及其 制造 方法 放射线 检测器 以及 检查 装置 | ||
【主权项】：
一种闪烁体用单晶，其特征在于，其为以（PrxRE1－x）AlO3表示的钙钛矿型氧化物的闪烁体用单晶，其中，RE为选自Y、La、Yb、Lu中的一种或两种以上；Pr的浓度x的范围为0.0001≤x﹤0.3。
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