[发明专利]一种多比特SONOS闪存单元、阵列及操作方法有效

专利信息
申请号: 201210093526.X 申请日: 2012-03-31
公开(公告)号: CN102610617B 公开(公告)日: 2017-11-24
发明(设计)人: 张博;莘海维 申请(专利权)人: 上海华虹宏力半导体制造有限公司
主分类号: H01L27/11568 分类号: H01L27/11568;H01L29/792
代理公司: 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙)31237 代理人: 郑玮
地址: 201203 上海市*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了一种多比特SONOS闪存单元,P型半导体衬底,其具有深N阱;在深N阱中形成的第一P型注入区和第二P型注入区,所述第一P型注入区和第二P型注入区构成源极区和漏极区;位于所述第一P阱和第二P型注入区之间的衬底上方的栅极结构,所述栅极结构包括栅介质层和位于栅介质层上的多晶硅层,其中,所述多晶硅层构成控制栅极,所述栅介质层为ONO结构,自下而上依次包括第一氧化层、氮化层、第二氧化层,所述ONO结构的氮化层中包括第一和第二存储位。本发明还提供了一种多比特SONOS闪存阵列以及一种多比特SONOS闪存阵列的操作方法。
搜索关键词: 一种 比特 sonos 闪存 单元 阵列 操作方法
【主权项】:
一种多比特SONOS闪存阵列,其特征在于,由多个多比特SONON存储单元按照虚拟接地阵列排列而成;所述多比特SONOS闪存单元,包括:P型半导体衬底,其具有深N阱;在深N阱中形成的第一P型注入区和第二P型注入区,所述第一P型注入区和第二P型注入区构成源极区和漏极区;位于所述第一P型注入区和第二P型注入区之间的衬底上方的栅极结构,所述栅极结构包括栅介质层和位于栅介质层上的多晶硅层,其中,所述多晶硅层构成控制栅极,所述栅介质层为ONO结构,自下而上依次包括第一氧化层、氮化层、第二氧化层,所述ONO结构的氮化层中包括第一存储位和第二存储位;所述第一P型注入区和第二P型注入区分别连接第一位线和第二位线,所述控制栅极连接控制线;所述多比特SONOS闪存阵列沿纵向排列的闪存单元串联且共用源极区和漏极区,同一列中的源极和漏极中的一极共同连接到同一位线,且相邻两列闪存单元中的两根位线中的一根位线是共用的,同一排中相邻闪存单元的一个源极和一个漏极共同连接到同一位线。
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