[发明专利]一种多比特SONOS闪存单元、阵列及操作方法有效
申请号: | 201210093526.X | 申请日: | 2012-03-31 |
公开(公告)号: | CN102610617B | 公开(公告)日: | 2017-11-24 |
发明(设计)人: | 张博;莘海维 | 申请(专利权)人: | 上海华虹宏力半导体制造有限公司 |
主分类号: | H01L27/11568 | 分类号: | H01L27/11568;H01L29/792 |
代理公司: | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙)31237 | 代理人: | 郑玮 |
地址: | 201203 上海市*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明公开了一种多比特SONOS闪存单元,P型半导体衬底,其具有深N阱;在深N阱中形成的第一P型注入区和第二P型注入区,所述第一P型注入区和第二P型注入区构成源极区和漏极区;位于所述第一P阱和第二P型注入区之间的衬底上方的栅极结构,所述栅极结构包括栅介质层和位于栅介质层上的多晶硅层,其中,所述多晶硅层构成控制栅极,所述栅介质层为ONO结构,自下而上依次包括第一氧化层、氮化层、第二氧化层,所述ONO结构的氮化层中包括第一和第二存储位。本发明还提供了一种多比特SONOS闪存阵列以及一种多比特SONOS闪存阵列的操作方法。 | ||
搜索关键词: | 一种 比特 sonos 闪存 单元 阵列 操作方法 | ||
【主权项】:
一种多比特SONOS闪存阵列,其特征在于,由多个多比特SONON存储单元按照虚拟接地阵列排列而成;所述多比特SONOS闪存单元,包括:P型半导体衬底,其具有深N阱;在深N阱中形成的第一P型注入区和第二P型注入区,所述第一P型注入区和第二P型注入区构成源极区和漏极区;位于所述第一P型注入区和第二P型注入区之间的衬底上方的栅极结构,所述栅极结构包括栅介质层和位于栅介质层上的多晶硅层,其中,所述多晶硅层构成控制栅极,所述栅介质层为ONO结构,自下而上依次包括第一氧化层、氮化层、第二氧化层,所述ONO结构的氮化层中包括第一存储位和第二存储位;所述第一P型注入区和第二P型注入区分别连接第一位线和第二位线,所述控制栅极连接控制线;所述多比特SONOS闪存阵列沿纵向排列的闪存单元串联且共用源极区和漏极区,同一列中的源极和漏极中的一极共同连接到同一位线,且相邻两列闪存单元中的两根位线中的一根位线是共用的,同一排中相邻闪存单元的一个源极和一个漏极共同连接到同一位线。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
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