[发明专利]屏蔽层制造方法无效
申请号: | 201210003602.3 | 申请日: | 2012-01-06 |
公开(公告)号: | CN103050375A | 公开(公告)日: | 2013-04-17 |
发明(设计)人: | 邱耀弘;柳朝纶;范淑惠 | 申请(专利权)人: | 晟铭电子科技股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/02 | 分类号: | H01L21/02;C23C14/22;C23C14/04;H05K9/00 |
代理公司: | 北京北新智诚知识产权代理有限公司 11100 | 代理人: | 刘徐红 |
地址: | 中国台湾台北市*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 本发明公开了一种屏蔽层制造方法,能以多种真空溅镀法在单颗IC芯片上制造屏蔽层,其包含下列步骤:以遮蔽治具遮蔽若干个IC芯片,并将其固定于工件架上;将腔室抽真空至一预处理真空度;当腔室的真空度到达工作真空度时,持续通入可电浆化的气体,并对若干个IC芯片的表面的封装材料进行离子轰击,使封装材料上产生碳悬键衔接层;以若干种真空溅镀法在碳悬键衔接层上依序形成一第一镀膜层、一第二镀膜层、一第三镀膜层;以及破真空,取出完成镀膜的若干个IC芯片。本发明可在同一设备中执行离子轰击、偏压、直流溅镀、中频溅镀及多弧离子镀等PVD制程,且利用PVD制程可使镀上的膜层更具有附着力。 | ||
搜索关键词: | 屏蔽 制造 方法 | ||
【主权项】:
一种屏蔽层制造方法,其包含下列步骤:以一遮蔽治具遮蔽若干个集成电路芯片,并将其固定于一工件架上;将一腔室抽真空至一预处理真空度;当所述腔室的真空度达到一工作真空度时,持续通入一可电浆化的气体,并对所述若干个集成电路芯片的表面的一封装材料进行离子轰击,使所述封装材料的表面形成一碳悬键衔接层;以若干种真空溅镀法在所述碳悬键衔接层上形成一第一镀膜层及一第二镀膜层;以及破真空,取出完成镀膜的所述若干个集成电路芯片。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
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