[发明专利]光学特性测量装置及方法

摘要

本发明对大面积的光学膜的光学特性进行迅速且高精度地测量。作为测量对象的光学膜12载置于面照明部14上。自面照明部14朝向光学膜12投射圆偏光。藉由光学膜12在X方向上移动，而光学膜12上的测量像素E依序通过摄像部15内的CCD相机的第1摄像区～第4摄像区。CCD相机在测量像素E通过各摄像区时对测量像素E进行多次摄像。将藉由该多次摄像所获得的输出值相加所得的值作为该摄像区的测量值。测量像素E的司托克士参数是根据4个摄像区的测量值而算出。针对光学膜12上的所有测量像素E而取得司托克士参数。

主权项

一种光学特性测量装置，其特征在于，包括：投光机构，对测量对象照射特定的偏光照明；摄像机构，将波长板在第1方向上对齐而排列，在上述第1方向上实现至少4种偏光特性，且包括影像感测器，该影像感测器被划分为对通过上述波长板的光个别地进行摄像的摄像区；以及扫描机构，使上述摄像机构相对于上述测量对象而相对地在上述第1方向上移动；且伴随着藉由上述扫描机构而进行的上述摄像机构的相对移动，将对上述测量对象的各测量像素在各摄像区中进行多次摄像所获得的输出值针对每个测量像素进行相加，而算出该摄像区的测量值，并根据自各摄像区收集的测量值来算出每个测量像素的光的司托克士参数。