[发明专利]物体检测装置及信息取得装置无效

专利信息
申请号: 201180005133.2 申请日: 2011-06-02
公开(公告)号: CN102686975A 公开(公告)日: 2012-09-19
发明(设计)人: 森本高明;楳田胜美 申请(专利权)人: 三洋电机株式会社
主分类号: G01C3/00 分类号: G01C3/00;G01C3/06;G01S17/48
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 雒运朴
地址: 日本国大阪府守*** 国省代码: 日本;JP
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明公开一种即使激光的点图案因衍射光学元件的形状、位置及激光的波长等而变化,也能够适当地检测到检测对象物体的距离的信息取得装置及搭载该信息取得装置的物体检测装置。信息取得装置(1)具有:射出波长为830nm左右的激光的激光光源(111);将激光朝向所述目标区域投射的投射光学系统(11);对来自所述目标区域的反射光进行受光并输出信号的CMOS图像传感器(124);保持基准样板的存储器(25),该基准样板通过将由CMOS图像传感器(124)所受光的光的基准图案利用呈矩阵状排列的基准分段区域划分而成;更新基准样板的更新部(21b)。更新部(21b)根据在基准样板上设定的参照分段区域的实测时的位移来更新基准样板。
搜索关键词: 物体 检测 装置 信息 取得
【主权项】:
一种信息取得装置,利用光来取得目标区域的信息,其特征在于,具有:光源,其射出规定波段的光;投射光学系统,其将从所述光源射出的光以规定的点图案朝向所述目标区域投射;受光元件,其对从所述目标区域反射的反射光进行受光并输出信号;存储部,其对在由所述受光元件所受光的所述光的基准图案中设定有多个基准分段区域的基准样板进行存储;更新部,其对所述基准样板进行更新,所述更新部根据在所述基准样板中设定的参照分段区域的实测时的位移,来更新所述基准样板。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于三洋电机株式会社,未经三洋电机株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201180005133.2/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top