[实用新型]半导体器件有效
申请号: | 201120282649.9 | 申请日: | 2011-08-01 |
公开(公告)号: | CN202662593U | 公开(公告)日: | 2013-01-09 |
发明(设计)人: | 小山正晃;望月英司;小林孝;小林英登 | 申请(专利权)人: | 富士电机株式会社 |
主分类号: | H01L23/485 | 分类号: | H01L23/485;H01L25/07 |
代理公司: | 北京尚诚知识产权代理有限公司 11322 | 代理人: | 龙淳 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本实用新型提供一种半导体器件,能够有效地制造多种高品质的半导体器件。半导体器件(1)具有散热部件(10);包含形成在散热部件(10)上的电路图案(21)和包含树脂的绝缘层(22)的布线层(20);包含安装在布线层(20)上的电子元件和对其进行封装的封装树脂的半导体元件(30、40)。不需要半导体元件(30、40)安装后的封装工序。此外,通过变更形成的电路图案(21)和所使用的半导体元件(30、40),能够有效地获得各种功能的半导体器件(1)。 | ||
搜索关键词: | 半导体器件 | ||
【主权项】:
一种半导体器件,其特征在于,包括:散热部件;形成于所述散热部件的一个主面上、包括导体层和绝缘层的布线层;与所述导体层连接的外部导出端子;和以树脂密封半导体芯片而形成的半导体元件,其中,在从所述绝缘层露出的导体层安装有多个所述半导体元件。
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