[实用新型]晶粒外观检查机无效
申请号: | 201120037829.0 | 申请日: | 2011-02-14 |
公开(公告)号: | CN201955309U | 公开(公告)日: | 2011-08-31 |
发明(设计)人: | 陈清凉;陈冠男 | 申请(专利权)人: | 富振昌科技股份有限公司 |
主分类号: | G01N21/88 | 分类号: | G01N21/88 |
代理公司: | 北京泰吉知识产权代理有限公司 11355 | 代理人: | 张雅军;秦小耕 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 一种晶粒外观检查机,适用于检查数个粘附于一张胶膜的晶粒,包含一个机台单元、一个设置于该机台单元并可供粘附有所述晶粒的胶膜摆置定位的工作台单元、一个设置于该机台单元并可拍摄所述晶粒的影像的取像单元、一个与该取像单元电连接的中央处理单元,及一个与该中央处理单元电连接的检视单元,该中央处理单元根据所述晶粒的影像对所述晶粒分别定义出一个坐标位置,该检视单元具有一个显示所述晶粒的影像的触控屏幕。 | ||
搜索关键词: | 晶粒 外观 检查 | ||
【主权项】:
一种晶粒外观检查机,适用于检查数个粘附于一张胶膜的晶粒,其特征在于:该晶粒外观检查机包含一个机台单元、一个供黏附有所述晶粒的胶膜摆置定位的工作台单元、一个用于拍摄所述晶粒的影像的取像单元、一个根据所述晶粒的影像对所述晶粒分别定义出一个坐标位置的中央处理单元,及一个检视单元;该工作台单元,设置于该机台单元;该取像单元,设置于该机台单元;该中央处理单元,与该取像单元电连接;该检视单元,与该中央处理单元电连接,该检视单元具有一个显示所述晶粒的影像的触控屏幕。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于富振昌科技股份有限公司,未经富振昌科技股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201120037829.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种安检装置
- 下一篇:纳米催化发光螺旋型传感器