[发明专利]一种金属薄膜电阻结构及其制造方法有效

专利信息
申请号: 201110321426.3 申请日: 2011-10-20
公开(公告)号: CN102324427A 公开(公告)日: 2012-01-18
发明(设计)人: 左青云;康晓旭;曾少海 申请(专利权)人: 上海集成电路研发中心有限公司
主分类号: H01L27/00 分类号: H01L27/00;H01L21/02
代理公司: 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 代理人: 郑玮
地址: 201210 上*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明提供一种金属薄膜电阻结构及其制造方法,其增加一张光刻掩模板便可形成金属薄膜电阻结构,其中,金属薄膜电阻与下层金属铜互连线连接,防止了现有技术在形成上层金属铜互连线时会对金属薄膜电阻造成刻蚀损伤的问题,从而提高了所形成的金属薄膜电阻的可靠性。
搜索关键词: 一种 金属 薄膜 电阻 结构 及其 制造 方法
【主权项】:
一种金属薄膜电阻结构,其特征在于,包括:绝缘层,所述绝缘层中形成有下层金属铜互连线;盖帽层,所述盖帽层位于所述绝缘层及下层金属铜互连线上,所述盖帽层上形成有窗口,所述窗口露出部分绝缘层及部分下层金属铜互连线的顶壁;金属薄膜电阻,所述金属薄膜电阻位于所述窗口中。
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