[发明专利]半导体装置无效
申请号: | 201110305422.6 | 申请日: | 2011-09-30 |
公开(公告)号: | CN102446938A | 公开(公告)日: | 2012-05-09 |
发明(设计)人: | 葛西大树;新井康夫;初井宇记 | 申请(专利权)人: | OKI半导体株式会社;独立行政法人理化学研究所 |
主分类号: | H01L27/146 | 分类号: | H01L27/146;H04N5/32 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 李伟;王轶 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明提供一种能够使反向耐压升高的半导体装置。包括:一导电型的半导体层(100);绝缘体层(130);设置在绝缘体层中的半导体层(210);设置于半导体层(210)的有源元件(20);设置于半导体层(100)的一主面(201)的另一导电型半导体区域(112);另一导电型半导体区域(114),设置在半导体区域(112)内,杂质浓度比半导体区域(112)高;导电体(154),设置于在绝缘体层(130)中设置的通孔(144)内,与半导体区域(144)连接;导电体(214),设置在绝缘体层(130)上或其中,且是设置在导电体(154)周围,外侧端部位于半导体区域(114)外侧;导电体(192),设置成连接导电体(154)和导电体(214);和导电体(152、120),设置成与半导体层(100)连接。 | ||
搜索关键词: | 半导体 装置 | ||
【主权项】:
一种半导体装置,其特征在于,包括:一导电型的第1半导体层;绝缘体层,设置在所述第1半导体层的一主面上;第2半导体层,设置在所述绝缘体层中;有源元件,设置于所述第2半导体层;第1半导体区域,设置于所述第1半导体层的所述一主面,且该第1半导体区域的导电型是与所述一导电型相反的另一导电型;第2半导体区域,设置在所述第1半导体区域内,且该第2半导体区域的导电型是所述另一导电型,该第2半导体区域的杂质浓度比所述第1半导体区域高;第1导电体,设置于在所述绝缘体层中设置的通孔内,与所述第2半导体区域连接;第2导电体,设置在所述绝缘体层上或者所述绝缘体层中,并且是设置在所述第1导电体的周围,从垂直于所述一主面的方向观察时,该第2导电体的外侧端部位于所述第2半导体区域的外侧;第3导电体,设置为将所述第1导电体和所述第2导电体连接起来;和第4导电体,设置为与所述第1半导体层电连接。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
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