[发明专利]感光二极管及其形成方法、CMOS图像传感器有效
申请号: | 201110298230.7 | 申请日: | 2011-09-28 |
公开(公告)号: | CN102354715A | 公开(公告)日: | 2012-02-15 |
发明(设计)人: | 吴小利;唐树澍;巨晓华 | 申请(专利权)人: | 上海宏力半导体制造有限公司 |
主分类号: | H01L31/102 | 分类号: | H01L31/102;H01L31/0352;H01L31/18;H01L27/146 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 骆苏华 |
地址: | 201203 上海市浦东新*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 一种感光二极管及其形成方法、CMOS图像传感器,感光二极管的形成方法包括:提供基底,基底内形成有阱区,基底上形成有栅极结构;在基底上形成具有开口的掩膜层,开口定义出感光二极管的区域;以具有开口的掩膜层为掩膜,对基底进行第一离子注入在阱区内形成第一掺杂区,第一离子注入的方向沿顺时针偏离垂直基底表面的方向第一预定角度,以使第一掺杂区与栅极结构有相互叠置的部分,第一掺杂区的掺杂类型与阱区相反,第一掺杂区与阱区形成感光二极管;以具有开口的掩膜层为掩膜,对基底进行第二离子注入,在第一掺杂区上形成第二掺杂区,第二掺杂区的掺杂类型与阱区相同。本发明可以减小光生电子转移过程中的噪声以及暗电流。 | ||
搜索关键词: | 感光 二极管 及其 形成 方法 cmos 图像传感器 | ||
【主权项】:
一种感光二极管的形成方法,其特征在于,包括:提供基底,所述基底内形成有阱区,所述基底上形成有栅极结构;在所述基底上形成具有开口的掩膜层,所述开口定义出感光二极管的区域;以所述具有开口的掩膜层为掩膜,对所述基底进行第一离子注入在所述阱区内形成第一掺杂区,所述第一离子注入的方向沿顺时针偏离垂直基底表面的方向第一预定角度,以使所述第一掺杂区与所述栅极结构有相互叠置的部分,所述第一掺杂区的掺杂类型与所述阱区相反,所述第一掺杂区与所述阱区形成感光二极管;以所述具有开口的掩膜层为掩膜,对所述基底进行第二离子注入,在所述第一掺杂区上形成第二掺杂区,所述第二掺杂区的掺杂类型与所述阱区相同。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的