[发明专利]半导体存储装置有效
申请号: | 201110276112.6 | 申请日: | 2011-09-16 |
公开(公告)号: | CN102693756A | 公开(公告)日: | 2012-09-26 |
发明(设计)人: | 品川勇一 | 申请(专利权)人: | 株式会社东芝 |
主分类号: | G11C16/20 | 分类号: | G11C16/20 |
代理公司: | 北京市中咨律师事务所 11247 | 代理人: | 陈海红;段承恩 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 一种半导体存储装置。根据实施例,提供包括存储单元阵列、存储部、选择部、启动处理部和工作控制部的半导体存储装置。存储单元阵列中,排列多个存储单元。存储部预先存储成为选择候补的多个工作参数。选择部根据来自用户的变更指示,选择多个工作参数中要使用于使存储单元工作的工作参数。启动处理部根据来自用户的启动指示,启动电源的同时,从存储部读出由选择部选择的工作参数,设定成可使用状态。工作控制部使用由启动处理部设定成可使用状态的工作参数,使存储单元工作。 | ||
搜索关键词: | 半导体 存储 装置 | ||
【主权项】:
一种半导体存储装置,其特征在于,包括:排列了多个存储单元的存储单元阵列;预先存储成为选择候补的多个工作参数的存储部;选择部,根据来自用户的变更指示,选择上述多个工作参数中要使用于使上述存储单元工作的工作参数;启动处理部,根据来自用户的启动指示,启动电源的同时,从上述存储部读出由上述选择部选择的工作参数,设定成可使用状态;工作控制部,使用由上述启动处理部设定成可使用状态的工作参数,使上述存储单元工作。
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