[发明专利]半导体存储装置

权利要求书

1.一种半导体存储装置，其特征在于，包括：

排列了多个存储单元的存储单元阵列；

预先存储成为选择候补的多个工作参数的存储部；

选择部，根据来自用户的变更指示，选择上述多个工作参数中要使用于使上述存储单元工作的工作参数；

启动处理部，根据来自用户的启动指示，启动电源的同时，从上述存储部读出由上述选择部选择的工作参数，设定成可使用状态；

工作控制部，使用由上述启动处理部设定成可使用状态的工作参数，使上述存储单元工作。

2.权利要求1所述的半导体存储装置，其特征在于，

还包括：存储上述工作控制部要使用的工作参数的寄存器，

上述启动处理部通过将上述选择部选择的工作参数从上述存储部读出并在上述寄存器存储，将上述选择部选择的工作参数设定成可使用状态。

3.权利要求1所述的半导体存储装置，其特征在于，

上述多个工作参数以与上述多个存储单元的各自的随时间劣化状态的多个等级对应的方式预先确定。

4.权利要求3所述的半导体存储装置，其特征在于，

上述多个工作参数具有与上述多个等级对应地从初始工作参数移动的值。

5.权利要求1所述的半导体存储装置，其特征在于，

上述选择部判断来自用户的上述变更指示的内容是否涉及可靠性提高，根据判断的结果，选择上述多个工作参数中要使用于使上述存储单元工作的工作参数。

6.权利要求1所述的半导体存储装置，其特征在于，

上述选择部判断改写次数/删除次数是否在阈值以上，根据判断的结果，选择上述多个工作参数中要使用于使上述存储单元工作的工作参数。

7.权利要求6所述的半导体存储装置，其特征在于，

上述选择部在上述改写次数/上述删除次数不足上述阈值的场合，选择以可靠性比初始工作参数提高的方式预先确定的第1工作参数，上述改写次数/上述删除次数在上述阈值以上的场合，选择以可靠性比上述第1工作参数提高的方式预先确定的第2工作参数。

8.权利要求1所述的半导体存储装置，其特征在于，

还包括：确定部，在包含可靠性优先的第1工作模式和性能优先的第2工作模式的多个工作模式中，确定与来自用户的上述变更指示相应的工作模式，

上述选择部根据上述确定部确定的工作模式，选择要使用于使上述存储单元工作的工作参数。

9.权利要求8所述的半导体存储装置，其特征在于，

上述确定部在来自用户的上述变更指示的内容涉及可靠性提高的场合，将工作模式确定为上述第1工作模式，在来自用户的上述变更指示的内容涉及性能提高的场合，将工作模式确定为上述第2工作模式，

上述选择部在上述确定部确定为上述第1工作模式或上述第2工作模式的场合，设定与上述确定部确定的工作模式相应的阈值的值，判断改写次数/删除次数是否在上述设定的阈值的值以上，根据判断的结果，选择上述多个工作参数中要使用于使上述存储单元工作的工作参数。

10.权利要求9所述的半导体存储装置，其特征在于，

上述选择部在上述确定部确定为上述第1工作模式的场合，将比标准值小的第1值设定为上述阈值，在上述确定部确定为上述第2工作模式的场合，将比上述标准值大的第2值设定为上述阈值。

11.权利要求10所述的半导体存储装置，其特征在于，

上述确定部在来自用户的上述变更指示的内容为根据改写次数/删除次数而提高可靠性的场合，将工作模式确定为第3工作模式，

上述选择部在上述确定部确定为上述第3工作模式的场合，将上述标准值设定为上述阈值。

12.权利要求9或权利要求11所述的半导体存储装置，其特征在于，

上述选择部在上述改写次数/上述删除次数不足上述设定的阈值的值的场合，选择以性能比初始工作参数提高的方式预先确定的第1工作参数，在上述改写次数/上述删除次数为上述设定的阈值的值以上的场合，选择以可靠性比上述初始工作参数提高的方式预先确定的第2工作参数。