[发明专利]发光二极管及其制作方法无效

专利信息
申请号: 201110247264.3 申请日: 2011-08-24
公开(公告)号: CN102299218A 公开(公告)日: 2011-12-28
发明(设计)人: 张楠;周健华;朱广敏;郝茂盛 申请(专利权)人: 上海蓝光科技有限公司
主分类号: H01L33/00 分类号: H01L33/00;H01L33/14;H01L33/36
代理公司: 上海光华专利事务所 31219 代理人: 李仪萍
地址: 201210 上海市浦*** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明提供一种发光二极管及其制作方法,其中该制作方法是利用金属有机化学气相沉积技术在半导体衬底上依次生长出缓冲层及外延层,所述外延层包括N-GaN层、量子阱、及P-GaN层,及成长在所述P-GaN层上的氮化铝层,然后,利用掩膜技术,将要制作P电极的区域进行保护;腐蚀芯片P电极区域以外的氮化铝(AlN)层,直至P-GaN层;去除掩膜层,形成带有电流阻挡的外延结构;接着,制作透明导电层及P电极与N电极;形成具有电流阻挡层结构的芯片。上述方法制作出的可以提高发光二极管的出光效率及可靠的电极稳定性。
搜索关键词: 发光二极管 及其 制作方法
【主权项】:
一种发光二极管的制作方法,其特征在于,所述制作方法至少包括以下步骤:1)提供一半导体衬底,利用金属有机化学气相沉积技术在所述半导体衬底上依次生长出缓冲层及外延层,所述外延层包括N‑GaN层、成长在所述N‑GaN层上的量子阱、成长在所述量子阱上的P‑GaN层、及成长在所述P‑GaN层上的氮化铝层;2)利用掩膜技术,将要欲制作P电极的区域藉由一掩膜层进行保护;3)腐蚀所述欲制作P电极的区域以外的氮化铝层,直至所述P‑GaN层;4)去除所述掩膜层,以形成带有电流阻挡层的外延结构;以及5)在所述P‑GaN层上制备出透明导电层及P电极,在所述N‑GaN层上制备出N电极,形成具有电流阻挡层结构的发光二极管。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海蓝光科技有限公司,未经上海蓝光科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201110247264.3/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top