[发明专利]半导体装置无效

专利信息
申请号: 201110203628.8 申请日: 2011-07-20
公开(公告)号: CN102347435A 公开(公告)日: 2012-02-08
发明(设计)人: 大中原繁寿;伊东健一;青柳彻;长谷川悠 申请(专利权)人: 松下电器产业株式会社
主分类号: H01L33/62 分类号: H01L33/62;H01L33/48;H01L33/00
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 樊建中
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明提供一种半导体装置,即使发生保护树脂的泄漏也可实现不易发生安装不良。半导体装置具备:引线框(101);搭载于引线框(101)上的第一半导体元件(103);在引线框(101)上按照包围第一半导体元件(103)的方式形成的框体(105);以及对被框体(105)包围的区域所填充的保护树脂(107)。引线框(101)具有向框体(105)的外侧突出的外部端子(115)。外部端子(115)具有:在从框体(105)突出的端部按照从外部端子(115)的上表面立起的方式形成的障壁部(119)。
搜索关键词: 半导体 装置
【主权项】:
一种半导体装置,其特征在于具备:引线框;第一半导体元件,其被保持在所述引线框的主面上;框体,其形成在所述引线框上包围所述第一半导体元件;以及保护树脂,其填充在被所述框体包围的区域,所述引线框具有向所述框体的外侧突出的外部端子,所述外部端子具有障壁部,该障壁部位于从所述框体突出的端部、并且按照从所述主面向保持所述第一半导体元件的方向立起的方式形成。
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