[发明专利]沟槽式肖特基二极管及其制作方法有效
| 申请号: | 201110060799.X | 申请日: | 2011-03-14 |
| 公开(公告)号: | CN102637595A | 公开(公告)日: | 2012-08-15 |
| 发明(设计)人: | 陈自雄 | 申请(专利权)人: | 陈自雄 |
| 主分类号: | H01L21/329 | 分类号: | H01L21/329;H01L29/872;H01L29/06 |
| 代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 彭久云 |
| 地址: | 中国台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | 本发明公开一种沟槽式肖特基二极管及其制作方法。该方法包括下列步骤:提供半导体基板,并形成多个沟槽结构,其中部分的沟槽结构底部有多个注入区域;形成栅极氧化层覆盖于该多个沟槽结构与该半导体基板的表面;形成多晶硅结构覆盖于该栅极氧化层;对该多晶硅结构进行蚀刻,使得该多晶硅结构覆盖于该多个沟槽结构;形成掩模层覆盖于部分的该多个沟槽结构与部分基板上的栅极氧化层,并露出部分该半导体基板的表面;于该掩模层与部分的该半导体基板表面形成金属溅镀层。 | ||
| 搜索关键词: | 沟槽 式肖特基 二极管 及其 制作方法 | ||
【主权项】:
一种沟槽式肖特基二极管制作方法,该方法包括下列步骤:提供半导体基板;于该半导体基板上形成多个沟槽结构,其中该多个沟槽结构可区分为第一类沟槽结构与第二类沟槽结构,该第一类沟槽结构的开口大于该第二类沟槽结构的开口;于该半导体基板中该第一类沟槽结构的底部形成多个注入区域;于该半导体基板的表面以及该多个沟槽结构的表面上形成栅极氧化层;于该栅极氧化层上形成多晶硅结构;对该多晶硅结构进行蚀刻,使得该多晶硅结构覆盖于该多个沟槽结构内的该栅极氧化层上;形成掩模层,覆盖于该第一类沟槽结构中的该多个多晶硅结构以及该栅极氧化层上;蚀刻该半导体基板,并露出未被该罩幕层覆盖的该半导体基板的表面;以及金属溅镀层,覆盖于部分的该半导体基板的表面、该第二类沟槽结构中的该多个多晶硅结构、以及部分的该掩模层。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于陈自雄,未经陈自雄许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201110060799.X/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:后视镜气压净镜装置
- 下一篇:用于非侵入性的分光光度患者监测的光耦合器
- 同类专利
- 专利分类
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造





