[发明专利]一种半导体纳米晶/量子点在晶硅材料上的沉积生长方法无效

专利信息
申请号: 201110047486.0 申请日: 2011-02-28
公开(公告)号: CN102184979A 公开(公告)日: 2011-09-14
发明(设计)人: 余锡宾;王飞久;杜梦娟;张坤;浦旭鑫 申请(专利权)人: 上海师范大学
主分类号: H01L31/0352 分类号: H01L31/0352;H01L31/04;H01L31/0216;H01L31/18
代理公司: 上海伯瑞杰知识产权代理有限公司 31227 代理人: 张美娟
地址: 200234 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了一种半导体纳米晶/量子点在晶硅材料上的沉积生长方法,由下列重量比物质组成:硫、硒、硫化物或硒化物1-100份;金属盐1-100份;溶剂100-500份;偶联剂1-10份;晶硅材料:硅片。以晶硅材料为基质,预先合成胶体量子点,加入偶联分子,结合旋涂、滴涂法以及浸渍提拉技术将胶体量子点连接到晶硅材料上。本发明产品物理化学性质非常稳定,长期暴露在空气中不会影响其光电转换效率。制备工艺简单易操作,容易工业应用,原料来源丰富,且价廉易得。
搜索关键词: 一种 半导体 纳米 量子 材料 沉积 生长 方法
【主权项】:
一种量子点的硅晶材料,其特征在于:由下列重量比物质组成:硫、硒、硫化物或硒化物 1‑100份;金属盐  1‑100份;溶剂  100‑500份;偶联剂  1‑10份;晶硅材料:硅片(硅电池片)。
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