[发明专利]一种基于多能级杂质改变半导体掺杂特性的半导体存储器无效

专利信息
申请号: 201110005329.3 申请日: 2011-01-12
公开(公告)号: CN102169891A 公开(公告)日: 2011-08-31
发明(设计)人: 杨庚雨;黄如;唐昱;邹积彬 申请(专利权)人: 北京大学
主分类号: H01L29/66 分类号: H01L29/66;G11C11/34
代理公司: 北京万象新悦知识产权代理事务所(普通合伙) 11360 代理人: 贾晓玲
地址: 100871*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明涉及一种半导体存储器,属于半导体器件技术领域。该半导体存储器包括一个N-P-N型或P-N-P-型半导体,其中,在N-P-N型半导体中的一个N型掺杂区或者P型掺杂区中掺入多能级杂质,或在P-N-P-型半导体中的一个P型掺杂区或者N型掺杂区中掺入多能级杂质。本发明通过控制多能级杂质,使其在施主能级和受主能级间进行转变,通过邻近区域间势垒的改变实现存储器关态或开态。
搜索关键词: 一种 基于 多能 杂质 改变 半导体 掺杂 特性 存储器
【主权项】:
一种半导体存储器,包括一个N‑P‑N型或P‑N‑P‑型半导体,其特征在于,在N‑P‑N型半导体中的一个N型掺杂区或者P型掺杂区中掺入多能级杂质,或在P‑N‑P‑型半导体中的一个P型掺杂区或者N型掺杂区中掺入多能级杂质。
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