[发明专利]氧化物及磁光学设备有效
申请号: | 201080034297.3 | 申请日: | 2010-06-04 |
公开(公告)号: | CN102803582A | 公开(公告)日: | 2012-11-28 |
发明(设计)人: | 牧川新二;渡边聪明;山中明生;成濑宽峰 | 申请(专利权)人: | 信越化学工业株式会社 |
主分类号: | C30B29/16 | 分类号: | C30B29/16;C04B35/50;G02B27/28;G02F1/09;C01F17/00 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 蒋亭 |
地址: | 日本国*** | 国省代码: | 日本;JP |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明的目的在于提供一种含有氧化铽的氧化物,其在波长1.06μm区域(0.9~1.1μm)中的维尔德常数大,并且具有高透明性。本发明的进一步的目的在于,提供一种适用于加工机用光纤激光器中的小型化了的磁光学设备。本发明的氧化物含有下述式(I)所示的氧化物作为主成分,波长1.06μm下的维尔德常数为0.18min/(Oe·cm)以上,并且波长1.06μm、光路长度3mm时的透过率为70%以上。(TbxR1-x)2O3(I)(式(I)中,x为0.4≤x≤1.0,R包含选自钪、钇、镧、铕、钆、镱、钬、以及镥中的至少一种元素)。 | ||
搜索关键词: | 氧化物 光学 设备 | ||
【主权项】:
一种氧化物,其特征在于,含有下述式(I)所示的氧化物作为主成分,(TbxR1‑x)2O3 (I)式(I)中,x为0.4≤x≤1.0,R包含选自钪、钇、镧、铕、钆、镱、钬、以及镥中的至少一种元素,波长1.06μm下的维尔德常数为0.18min/(Oe·cm)以上,并且波长1.06μm、光路长度3mm时的透过率70%以上。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于信越化学工业株式会社,未经信越化学工业株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201080034297.3/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:河床横断面地震折射波勘探方法及其装置
- 下一篇:键盘按键