[发明专利]集成电路结构有效

专利信息
申请号: 201010530411.3 申请日: 2010-10-28
公开(公告)号: CN102064136A 公开(公告)日: 2011-05-18
发明(设计)人: 萧景文;庄曜群;陈承先;郭正铮;黄儒瑛 申请(专利权)人: 台湾积体电路制造股份有限公司
主分类号: H01L23/00 分类号: H01L23/00;H01L23/498
代理公司: 隆天国际知识产权代理有限公司 72003 代理人: 姜燕;陈晨
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明提供一种集成电路结构,其包括一第一工作件及一第二工作件。此第一工作件包含一铜凸块位于此第一工作件的主要表面上且具有一第一尺寸;及一含镍阻挡层,位于此铜凸块上并与其邻接。第二工作件与第一工作件接合,且此第二工作件包含一连接垫及一阻焊层位于此第二工作件的主要表面上,且此阻焊层具有一第二尺寸的阻焊开口以暴露一部分的此连接垫。第一尺寸对第二尺寸之比例大于约1。此外,一焊接区电性连接此铜凸块及此连接垫,且此连接垫及此铜凸块之间的垂直距离大于约30μm。本发明能使应力降低至某种程度,例如至产生破裂的临界点以下。
搜索关键词: 集成电路 结构
【主权项】:
一种集成电路结构,包括:一第一工作件,包括:一铜凸块,位于该第一工作件的主要表面上,且在一平行于第一工作件的主要表面的第一平面中具有一第一尺寸:及一含镍阻挡层,位于该铜凸块上并与其邻接;一第二工作件,接合至该第一工作件上且包括:一连接垫,位于该第二工作件的主要表面上;一阻焊层,位于该第二工作件的主要表面,且具有一第二尺寸的阻焊开口,暴露一部分的该连接垫,其中该第二尺寸是以平行于该第二工作件的主要表面的一第二表面所测量,且其中该第一尺寸对该第二尺寸的比例大于约1;以及一焊接区,电性连接该铜凸块及该连接垫,其中该连接垫及该铜凸块之间的垂直距离大于约30μm。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于台湾积体电路制造股份有限公司,未经台湾积体电路制造股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201010530411.3/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top