[发明专利]极端条件下测量材料或电子器件交流阻抗特性的方法及系统无效
| 申请号： | 201010290764.0 | 申请日： | 2010-09-21 |
| 公开（公告）号： | CN102012460A | 公开（公告）日： | 2011-04-13 |
| 发明（设计）人： | 陈腊;周云;康保娟;李备战;张金仓;曹世勋 | 申请（专利权）人： | 上海大学 |
| 主分类号： | G01R27/02 | 分类号： | G01R27/02 |
| 代理公司： | 上海上大专利事务所(普通合伙) 31205 | 代理人： | 何文欣 |
| 地址： | 200444*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种极端条件下测量材料或电子器件交流阻抗特性的方法及系统。本方法操作步骤为：1.在具有极端条件的综合物性测量系统中安置样品；2.通过循环设置LCR仪表测量参数实现扫描测量功能；3.利用LCR仪表测量样品交流阻抗；4.消除误差。本系统是一个综合物性测量系统和一个LCR仪表通过GPIB接口总线与一个微机终端相连。本发明能够在极低温和强磁场条件下测量样品或器件交流阻抗特性。 | ||
| 搜索关键词： | 极端 条件下 测量 材料 电子器件 交流 阻抗 特性 方法 系统 | ||
【主权项】：
一种极端条件下测量材料或电子器件交流阻抗特性的方法，其特征在于操作步骤为：a.综合物性测量系统(2)为测试提供所需的极低温和强磁场条件，以及调节样品(5)或电子器件与磁场夹角方向；待测样品(5)或器件用双面胶及夹具固定于样品托(6)或旋转杆上，样品托(6)或旋转杆置于液氦杜瓦(4)样品腔内；b.通过循环设置LCR仪表(3)测量参数实现扫描测量功能；c.在样品(5)或器件温度磁场值达到预设值后，利用LCR仪表(3)测量样品(5)或器件交流阻抗；d.消除误差：在不加载样品或器件情况下，分别测量LCR表(3)与样品托(6)间电缆(7)开路和短路时对应的各种交流频率阻抗；然后在加载样品(5)或器件情况下，通过扣除掉这个背底阻抗来得到较精确的结果。
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