[发明专利]制造半导体装置导线的方法及内连线结构无效
申请号: | 201010236091.0 | 申请日: | 2010-07-22 |
公开(公告)号: | CN102339788A | 公开(公告)日: | 2012-02-01 |
发明(设计)人: | 骆统;郑明达;苏金达;杨大弘;陈光钊 | 申请(专利权)人: | 旺宏电子股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/768 | 分类号: | H01L21/768;H01L23/52 |
代理公司: | 北京中原华和知识产权代理有限责任公司 11019 | 代理人: | 寿宁;张华辉 |
地址: | 中国台湾新竹*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明是有关于一种制造半导体装置导线的方法及内连线结构,该方法包括提供多条导线于一基板的一上表面之上,每一条导线之间由该基板的该上表面的一裸露部分分隔,形成一阻障层于该基板之上,该阻障层具有一第一部分顺形地形成于每一条导线之上,及一第二部分形成于该基板的该上表面的每一裸露部分之上,除去该阻障层的该第二部分以保留该第一部分于每一条导线的上方部分及侧壁部分之上。因此,本发明可以避免在形成半导体装置中的导线时产生山丘状的突起或凸块。 | ||
搜索关键词: | 制造 半导体 装置 导线 方法 连线 结构 | ||
【主权项】:
一种制造半导体装置导线的方法,其特征在于其包括以下步骤:沉积一导电材料层于一基板之上;沉积一第一阻障层于该导电材料层之上;图案化一幕罩于该第一阻障层之上,该图案化包含多条导线的一布局;使用该幕罩将该第一阻障层及该导电材料层蚀刻以形成该些导线;形成一第二阻障层于该些导线之上及侧壁;以及沉积一介电材料于每一条导线图案之上与之间。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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