[发明专利]一种基于物体发射光谱的温度测量方法

摘要

本发明公开了一种基于物体发射光谱的温度测量方法，包括如下步骤：(1)利用光谱仪采集某温度下的待测物体发出的连续光谱并对该连续光谱进行滤波和平滑处理；(2)根据50～150nm光谱宽度范围内的光谱数据获得ln(E(λ，T)·λ⁵)关于的变化曲线并采用线性拟合方法求出该变化曲线的斜率A，再根据方程获得待测物体温度T；其中，E(λ，T)为光谱强度，λ为辐射波长，T为物体温度，c₂＝1.43879×10^-2m/K为第二辐射常数。本发明提高了温度测量的准确性和普适性。

主权项

1.一种基于物体发射光谱的温度测量方法，包括如下步骤：(1)利用光谱仪采集某温度下的待测物体发出的连续光谱并对该连续光谱进行滤波和平滑处理；(2)根据50～150nm光谱宽度范围内的光谱数据获得ln(E(λ，T)·λ⁵)关于的变化曲线并采用线性拟合方法求出该变化曲线的斜率A，再根据方程A=-c2T]]>获得待测物体温度T；其中，E(λ，T)为光谱强度，λ为辐射波长，T为待测物体温度，c₂＝1.43879×10^-2m/K为第二辐射常数。