[发明专利]半导体装置及其制造方法有效
申请号: | 201010146652.8 | 申请日: | 2010-03-12 |
公开(公告)号: | CN101840864A | 公开(公告)日: | 2010-09-22 |
发明(设计)人: | 矶部敦生;乡户宏充;筱原聪始 | 申请(专利权)人: | 株式会社半导体能源研究所 |
主分类号: | H01L21/336 | 分类号: | H01L21/336;H01L21/20;H01L21/3205;H01L29/78 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 何欣亭;徐予红 |
地址: | 日本神奈*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明提供一种解决在使用具有绝缘表面的衬底的情况下有可能发生的问题的半导体装置。该半导体装置包括:具有绝缘表面的基底衬底;绝缘表面上的导电层;导电层上的绝缘层;绝缘层上的包括沟道形成区、第一杂质区、第二杂质区、以及沟道形成区与第二杂质区之间的第三杂质区的半导体层;覆盖半导体层的栅极绝缘层;栅极绝缘层上的栅电极;电连接到第一杂质区的第一电极;以及电连接到第二杂质区的第二电极,其中,导电层被保持为规定电位。 | ||
搜索关键词: | 半导体 装置 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
一种半导体装置的制造方法,包括如下步骤:对接合衬底照射离子,从而在所述接合衬底中形成脆化区;在具有绝缘表面的基底衬底上形成导电层;将所述接合衬底和所述导电层粘合在一起且在所述接合衬底和所述导电层之间隔着绝缘层;对所述接合衬底进行加热,并且在所述脆化区中分离所述接合衬底,从而在所述基底衬底上形成所述导电层、所述绝缘层以及半导体层的叠层结构;对所述半导体层进行图案化,并且形成岛状半导体层;在所述岛状半导体层上形成栅极绝缘层;在所述栅极绝缘层上形成栅电极;形成第一杂质区、第二杂质区、以及第三杂质区;以及形成电连接到所述第一杂质区的第一电极和电连接到所述第二杂质区的第二电极,其中,在沟道形成区和所述第二杂质区之间设置所述第三杂质区。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
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