[发明专利]电子信号走线特性阻抗测试系统及方法有效
申请号: | 200910303765.1 | 申请日: | 2009-06-26 |
公开(公告)号: | CN101930030A | 公开(公告)日: | 2010-12-29 |
发明(设计)人: | 梁献全;李昇军;许寿国;陈永杰 | 申请(专利权)人: | 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司;鸿海精密工业股份有限公司 |
主分类号: | G01R27/02 | 分类号: | G01R27/02 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 518109 广东省深圳市*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 一种电子信号走线特性阻抗测试方法,该方法包括步骤:在主机中输入测试信息;获取该测试设备的状态信息;当测试设备的状态信息正常时,从主机中获取待测电子信号走线的测试参数;控制测试设备根据所获取的测试参数对待测电子信号走线进行特性阻抗测试;从测试设备中获取测试结果;对所采集的测试结果进行分析并得到分析结果;及根据测试结果和分析结果生成测试报告。本发明还提供一种电子信号走线特性阻抗测试系统。 | ||
搜索关键词: | 电子 信号 特性 阻抗 测试 系统 方法 | ||
【主权项】:
一种电子信号走线特性阻抗测试系统,运行于主机中,该主机与测试设备相连,其特征在于,该系统包括:输入模块,用于在主机中输入测试信息;初始化模块,用于对测试设备进行初始化;获取模块,用于获取测试设备的状态信息,及当测试设备的状态信息正常时,根据测试信息中待测电子信号走线的测试参数文档的路径从主机中获取测试参数;测试模块,用于控制测试设备根据所获取的测试参数逐一对所有待测电子信号走线进行特性阻抗测试,从测试设备中获取测试结果,并根据测试信息存储所采集的测试结果;分析模块,用于根据所获取的测试参数对每一条待测电子信号走线的测试结果进行分析并得到分析结果;及生成模块,用于根据所有待测电子信号走线的测试结果和分析结果生成测试报告,并根据测试信息存储该测试报告。
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