[发明专利]薄膜沉积方法和装置无效

专利信息
申请号: 200910198491.4 申请日: 2009-11-05
公开(公告)号: CN102051602A 公开(公告)日: 2011-05-11
发明(设计)人: 唐兆云 申请(专利权)人: 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
主分类号: C23C16/46 分类号: C23C16/46;H01L21/00
代理公司: 北京德琦知识产权代理有限公司 11018 代理人: 王一斌;王琦
地址: 201203 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了一种薄膜沉积方法,该方法包括:在晶舟的每个格子上放置一片晶圆,将晶舟装载至反应腔内,并向反应腔内通入反应气体,其中,按照从上到下的顺序相邻格子之间的间距为一等差数列;调整反应腔的上部温度、上中部温度、中部温度、中下部温度和下部温度,且反应腔的上部温度、上中部温度、中部温度、中下部温度和下部温度相等。同时,本发明还公开了一种薄膜沉积装置,采用该方法和装置能够降低同一批产品在性能上的差异。
搜索关键词: 薄膜 沉积 方法 装置
【主权项】:
一种薄膜沉积方法,该方法应用于炉管中,所述炉管包括:加热器、反应腔、底盖、晶舟、进气口和出气口,其中,底盖和晶舟相连,用于在外界驱动系统的驱动下带动晶舟上下移动;晶舟包括若干个格子,每个格子用于装载一片晶圆;反应腔,用于反应气体在晶圆表面进行薄膜沉积;加热器,位于反应腔的外部,用于对反应腔进行加热,其中,加热器按照从上到下的顺序分为5个温区,用于分别对反应腔的上部、上中部、中部、中下部和下部进行加热;进气口,位于反应腔的上部或下部,用于输入反应所需气体;出气口,位于反应腔的上部或下部,用于排出废气,其特征在于,该方法包括:在晶舟的每个格子上放置一片晶圆,将晶舟装载至反应腔内,并向反应腔内通入反应气体,其中,按照从上到下的顺序相邻格子之间的间距为一等差数列;调整反应腔的上部温度、上中部温度、中部温度、中下部温度和下部温度,且反应腔的上部温度、上中部温度、中部温度、中下部温度和下部温度相等。
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