[发明专利]一种GaN基LED芯片结构中p-GaN层或ITO层的表面粗化方法有效
申请号: | 200910193476.0 | 申请日: | 2009-10-30 |
公开(公告)号: | CN101702419A | 公开(公告)日: | 2010-05-05 |
发明(设计)人: | 何安和;章勇;何苗;范广涵 | 申请(专利权)人: | 华南师范大学 |
主分类号: | H01L33/00 | 分类号: | H01L33/00;H01L33/06;H01L33/02;H01L33/14;H01L33/22;H01L33/44 |
代理公司: | 广州粤高专利商标代理有限公司 44102 | 代理人: | 陈卫 |
地址: | 510631 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开了一种GaN基LED芯片结构中p-GaN层或ITO层的表面粗化方法。该方法包括如下步骤:(1)在半导体衬底上依次生长低温GaN缓冲层、不掺杂GaN层、n-GaN层、多量子阱层、p-GaN层的层叠式结构和蒸镀ITO电流扩展层;(2)制备单层镍纳米粒子作为掩模,在p-GaN层或ITO层表面制作粗化结构。本发明方法步骤简单,成本低,粗化效果好;通过本发明方法对GaN基LED的p-GaN层或ITO层进行表面粗化,可以抑制芯片内光子的全反射,提高器件的出光效率。 | ||
搜索关键词: | 一种 gan led 芯片 结构 ito 表面 方法 | ||
【主权项】:
一种GaN基LED芯片结构中p-GaN层或ITO层的表面粗化方法,其特征在于包括如下步骤:(1)在半导体衬底上依次生长低温GaN缓冲层、不掺杂GaN层、n-GaN层、多量子阱层、p-GaN层和蒸镀ITO电流扩展层;(2)制备单层镍纳米粒子作为掩膜,在p-GaN层或ITO层表面制作粗化结构。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于华南师范大学,未经华南师范大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200910193476.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:失效及不良品电池追溯卷绕机的方法
- 下一篇:一种车载防盗天线