[发明专利]缺陷检查方法以及使用该方法的磁盘驱动器有效
| 申请号： | 200910133841.9 | 申请日： | 2009-04-03 |
| 公开（公告）号： | CN101552020A | 公开（公告）日： | 2009-10-07 |
| 发明（设计）人： | 郑承烈;金世贤;赵才德 | 申请（专利权）人： | 三星电子株式会社 |
| 主分类号： | G11B20/18 | 分类号： | G11B20/18 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人： | 钱大勇 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 韩国;KR |
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| 摘要： | 提供一种磁盘缺陷检测的方法和装置。所述缺陷检查方法包括：关于除所述磁盘驱动器的磁盘之外的磁盘驱动器的部件因素，确定用于磁盘缺陷检测的独立的记录密度值，以及使用用于磁盘缺陷检测的所述独立记录密度值来执行磁盘缺陷检查。 | ||
| 搜索关键词： | 缺陷 检查 方法 以及 使用 磁盘驱动器 | ||
【主权项】：
1、一种缺陷检查方法，包括：关于除磁盘驱动器的磁盘之外的磁盘驱动器的部件因素，确定用于磁盘缺陷检测的独立的记录密度值；以及利用所述用于磁盘缺陷检测的独立的记录密度值来执行磁盘缺陷检查。
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