[发明专利]缺陷检查方法以及使用该方法的磁盘驱动器

权利要求书

1.一种缺陷检测方法，包括：

相对于在从磁盘读取/将数据写入到磁盘中所使用的记录密度值，独立地确定磁盘驱动器中用于磁盘缺陷检测的记录密度值；

使用所确定的用于磁盘缺陷检测的独立的记录密度值来执行磁盘缺陷检测；以及

通过执行磁盘缺陷检测，产生缺陷列表。

2.根据权利要求1所述的缺陷检测方法，其中，确定所述用于磁盘缺陷检测的独立的记录密度值而不考虑之前的读/写操作期间由所述磁盘驱动器所使用的记录密度值。

3.根据权利要求1所述的缺陷检测方法，其中，所述用于磁盘缺陷检测的独立的记录密度值以每英寸比特(BPI)值的单位来表示。

4.根据权利要求1所述的缺陷检测方法，其中，所述用于磁盘缺陷检测的独立的记录密度值是关于用来在所述磁盘驱动器的读/写通道中处理数据的频率来确定的。

5.根据权利要求1所述的缺陷检测方法，其中，所述确定所述用于磁盘缺陷检测的独立的记录密度值包括：

对于在多个记录密度值当中的当前记录密度值，将测试图案写入到所述磁盘的测试区域；

读取所述测试区域，用以获得再现测试图案信号；

计算对于与所述当前记录密度值对应的再现测试图案信号的增益值-信号重建比；以及

将所述当前记录密度值增加到最大记录值。

6.根据权利要求5所述的缺陷检测方法，进一步包括：

在计算与对于与多个记录密度值中的每一个对应的再现测试图案信号的每一增益值-信号重建比相关联的增益值之后，关于与最接近于所定义的初始目标值的增益值-信号重建比的值相关联的增益值来确定所述多个记录密度值中最优的一个。

7.根据权利要求6所述的缺陷检测方法，其中，每一增益值-信号重建比的每一增益值是用于放大增益的自动增益控制(AGC)电路的增益值，该 增益值依照对应的再现测试图案信号的幅值来变化。

8.根据权利要求1所述的缺陷检测方法，其中，所述确定所述用于磁盘缺陷检测的独立的记录密度值包括：

针对多个记录密度值中的每一个，将测试图案写入到测试区域；

检测自动增益控制(AGC)电路的增益值，其中所述增益值与通过读取所述测试区域再现的测试图案信号的幅值成反比；以及

关于所述多个记录密度值及对应的增益来确定最接近于初始目标值的最优增益值。

9.根据权利要求1所述的缺陷检测方法，其中，所述确定所述用于磁盘缺陷检测的独立的记录密度值包括：

关于多个记录密度值，连续地写入测试图案；

针对所述多个记录密度值中的每一个，测量与增益值-输出信号幅值比相关联的增益值，其中，所述增益值对应于自动增益控制(AGC)电路的增益，该增益依照通过读取已写入的测试图案而再现的针对记录密度值的测试图案信号的幅值来改变，其中所述增益值-输出信号幅值比的输出信号幅值是由自动增益控制电路输出的信号的幅值；以及

将所述多个记录密度值中的一个确定为用于磁盘缺陷检测的独立的记录密度值，其中，所述独立的记录密度值对应于与最接近于初始目标值的增益值-输出信号幅值比相关联的增益值。

10.根据权利要求1的所述的缺陷检测方法，进一步包括：

将测试图案写入到所述磁盘的测试区域，通过从所述测试区域中读取所述测试图案来生成测试图案信号，以及当所述测试图案信号的幅值小于阈值时确定所述测试区域是否是所述磁盘的缺陷区域。

11.根据权利要求10所述的缺陷检测方法，进一步包括：

产生指示通过执行所述磁盘缺陷检测而识别的所述磁盘的一个或多个缺陷区域的缺陷列表。

12.根据权利要求11所述的缺陷检测方法，进一步包括：

根据定义的操作条件恢复用于在读/写操作期间使用的记录密度值。