[发明专利]缺陷检查方法以及使用该方法的磁盘驱动器有效

专利信息
申请号: 200910133841.9 申请日: 2009-04-03
公开(公告)号: CN101552020A 公开(公告)日: 2009-10-07
发明(设计)人: 郑承烈;金世贤;赵才德 申请(专利权)人: 三星电子株式会社
主分类号: G11B20/18 分类号: G11B20/18
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 代理人: 钱大勇
地址: 韩国*** 国省代码: 韩国;KR
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 缺陷 检查 方法 以及 使用 磁盘驱动器
【说明书】:

技术领域

发明涉及用于检查磁盘驱动器的记录介质的方法和设备。更具体地,本发明涉及提高磁盘缺陷检测过程的准确度的方法和设备。 

背景技术

硬盘驱动器(HDD)是被适配为使用磁头记录和再现数据的数据存储设备。近年来,传统HDD的数据存储容量、设备的集成密度以及物理大小的小型化全部都在增强。在磁盘旋转方向上的数据记录密度可以使用每英寸比特(BPI)值来表示。在横穿磁盘的径向方向上的数据记录密度可以使用每英寸磁轨(TFI)值来表示。然而,如所表示的,在当今的HDD中,数据记录密度已经迅速增加。结果,需要更好的及更精密的机制来读取已经以极大增加的密度记录在最新的HDD上的数据。 

在HDD中所使用的“磁盘”记录介质将典型地包括正常和缺陷区域。与由正常数据读取所产生的信号相比,写入到某些物理上有缺陷的区域的数据被再现为具有降低的幅度和/或减弱的信噪比的信号。在某个方面,从对有缺陷的硬盘区域的数据读取操作中产生的数据信号的一致性不能够确保。因而,在制造HDD的过程中,必须执行磁盘缺陷检查,以便确保HDD的性能质量。 

发明内容

本发明的实施例提供一种缺陷检查方法,该方法选择使对HDD中的磁盘进行数据读取操作的信号噪声最小化的记录密度。 

在一个实施例中,本发明提供一种缺陷检查方法,该方法包括:关于除磁盘驱动器的磁盘之外的磁盘驱动器的部件的因素,确定用于磁盘缺陷检测的独立的记录密度值;并使用用于磁盘缺陷检测的独立的记录密度值来执行磁盘缺陷检查。 

在另一实施例中,本发明提供一种磁盘驱动器,包括:被适配为存储数据的磁盘;磁头,用于在写操作期间将测试图案数据写入到磁盘上的测试区域、以及在读操作期间从测试区域读取测试图案数据用以产生对应的测试图案信号;自动增益控制(AGC)电路,用于依照对应的测试图案信号的幅值来控制增益值;以及控制器,用于在多个写操作期间以及在多个读操作期间控制磁头,每一个写操作是关于多个记录密度值中的一个来执行的,每一个读操作是在多个写操作中的对应的一个之后执行的,用以产生对应的测试图案信号,并且该控制器还用于关于对应的测试图案信号和AGC电路增益值来选择多个记录密度值中的一个作为独立记录密度值,其中该独立记录密度值随后被用在磁盘缺陷检查中。

附图说明

将参照附图说明示范性实施例,其中: 

图1是说明根据本发明实施例的硬盘驱动器(HDD)的头磁盘组件(head disk assembly)的平面图; 

图2是说明根据本发明实施例的用于控制图1的HDD的电系统的方框图; 

图3是说明根据本发明实施例的自动增益控制(AGC)电路的方框图; 

图4是根据本发明实施例的缺陷检查方法的流程图;以及 

图5是概要说明根据本发明实施例的确定用于磁盘缺陷检查的记录密度的方法的流程图。 

具体实施方式

现在将参照附图描述本发明的实施例。然而,本发明可以以多样地来实现以及不应当被解释为仅由所示的示例来限定。 

硬盘驱动器(HDD)通常通过将各种各样的电路以及包含相关机械部件的头磁盘组件(HDA)进行组合来实现。 

图1示出根据本发明实施例的HDD中的HAD 10的主要机械部件。参照图1,HAD 10包括由主轴电机14旋转的至少一个磁盘12以及靠近磁盘12的表面放置的换能器(transducer)(未示出)。 

换能器检测磁盘12的磁场并磁化磁盘12,从而使得能够记录和再现信息。将换能器描述为单个部件,但应当理解的是,换能器可以包括用于磁化磁盘12的写换能器(也称为“写入器”)以及用于检测磁盘12的磁场的分离的读换能器(也称为“读出器”)。读换能器可以由磁电阻(MR)元件来形成。 

换能器可以集成到磁头16中。磁头16被配置为在换能器和磁盘12的表面之间产生空气轴承(bearing)。磁头16集成到磁头组组件22(HSA),该组件附在具有音圈26的致动器臂24上。音圈26靠近磁性组件28放置以便激励音圈电机(VCM)30。向音圈26提供的电流产生转矩,用于相对于轴承组件32旋转致动器臂24。致动器臂24的旋转使换能器能够在磁盘12的表面来回移动。 

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于三星电子株式会社,未经三星电子株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200910133841.9/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top