[发明专利]半导体装置的制造方法、半导体装置及显示装置有效

专利信息
申请号: 200880117658.3 申请日: 2008-11-14
公开(公告)号: CN101874294A 公开(公告)日: 2010-10-27
发明(设计)人: 竹井美智子;福岛康守;富安一秀;守口正生;高藤裕 申请(专利权)人: 夏普株式会社
主分类号: H01L21/336 分类号: H01L21/336;H01L21/02;H01L27/12;H01L29/786
代理公司: 北京市隆安律师事务所 11323 代理人: 权鲜枝
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明公开了一种半导体装置的制造方法、半导体装置及显示装置。该半导体装置的制造方法包括第一工序、第二工序、第三工序以及第四工序,在该第一工序中形成包括器件部的基体层,该器件部具有栅极电极以及覆盖该栅极电极而形成的平坦的层间绝缘膜,在该第二工序中,利用离子注入法向基体层注入剥离用物质,来形成剥离层,在该第三工序中,将基体层贴在基板上,在该第四工序中,沿剥离层分离并除去基体层的一部分,栅极电极及层间绝缘膜的剥离用物质的注入射程实质上相等。
搜索关键词: 半导体 装置 制造 方法 显示装置
【主权项】:
一种半导体装置的制造方法,其特征在于:包括:第一工序,形成包括器件部的基体层,该器件部具有栅极电极以及覆盖该栅极电极而形成的平坦的层间绝缘膜,第二工序,利用离子注入法向形成有所述层间绝缘膜的所述基体层注入剥离用物质,来形成剥离层,第三工序,将形成有所述器件部的所述基体层贴在基板上,以及第四工序,沿所述剥离层分离并除去已贴在所述基板上的所述基体层中未形成所述器件部的一部分;所述栅极电极及所述层间绝缘膜的所述剥离用物质的注入射程实质上相等。
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