[发明专利]光半导体元件用密封剂及光半导体元件无效

专利信息
申请号: 200880020001.5 申请日: 2008-06-13
公开(公告)号: CN101679613A 公开(公告)日: 2010-03-24
发明(设计)人: 谷川满;渡边贵志;西村贵史 申请(专利权)人: 积水化学工业株式会社
主分类号: C08G59/72 分类号: C08G59/72;C08G77/14;H01L23/31;H01L33/00;H01L23/29
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 代理人: 朱 丹
地址: 日本国*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明的目的在于,提供一种光半导体用密封剂,其在透明性、耐热性、耐光性、密合性方面优异,可以稳定地控制将光半导体元件的发光元件密封时的密封剂的形状,并且可以防止荧光体的沉降。另外,目的还在于,提供一种使用该光半导体用密封剂制成的光半导体元件。本发明提供一种光半导体元件用密封剂,其含有在分子内具有含环状醚的基团的有机硅树脂、与上述含环状醚的基团反应的热固化剂、氧化硅微粒,使用E型粘度计得到的25℃的5rpm的粘度为500~1万mpa·s,通过将使用E型粘度计得到的25℃的1rpm的粘度用10rpm粘度除(1rpm的粘度/10rpm的粘度)算出的触变值为1.2~2.5,并且使用平行板型流变仪得到的25℃到固化温度的温度区域的1s-1的最低粘度为100mPa·s以上。
搜索关键词: 半导体 元件 密封剂
【主权项】:
1.一种光半导体元件用密封剂,其特征在于,含有:在分子内具有含环状醚的基团的有机硅树脂、与所述含环状醚的基团反应的热固化剂以及氧化硅微粒,使用E型粘度计得到的25℃下5rpm时的粘度为500~1万mPa·s,通过将使用E型粘度计得到的25℃下1rpm时的粘度用10rpm粘度除(1rpm时的粘度/10rpm时的粘度)而算出的触变值为1.2~2.5,并且使用平行板型流变仪得到的在自25℃到固化温度的温度区域的1s-1时的最低粘度为100mPa·s以上。
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