[发明专利]三维应变NMOS集成器件及其制作方法无效

专利信息
申请号: 200810232451.2 申请日: 2008-11-28
公开(公告)号: CN101409296A 公开(公告)日: 2009-04-15
发明(设计)人: 胡辉勇;张鹤鸣;戴显英;宣荣喜;宋建军;舒斌;赵丽霞 申请(专利权)人: 西安电子科技大学
主分类号: H01L27/12 分类号: H01L27/12;H01L21/84
代理公司: 陕西电子工业专利中心 代理人: 王品华;黎汉华
地址: 71007*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明公开了一种三维应变NMOS集成器件及其制作方法,它涉及微电子技术领域,主要解决现有三维集成电路速度低的问题。其方案是分别采用SSOI和SGOI衬底构建新的三维集成器件的两个有源层。其中,下层有源层采用SSOI衬底,利用SSOI衬底中应变Si材料电子迁移率高的特点,制作poly-SiGe栅应变Si NMOSFET;上层有源层采用SGOI衬底,在该衬底上生长一层应变Si,制作poly-SiGe栅应变Si表面沟道NMOSFET,之间通过互连线连接,构成导电沟道为65~130nm的三维应变NMOS集成器件。本发明制造的三维应变NMOS集成器件与现有三维集成器件相比,具有速度快和性能好的优点,该器件可用于制作大规模、高速三维集成电路。
搜索关键词: 三维 应变 nmos 集成 器件 及其 制作方法
【主权项】:
1.一种三维应变NMOS集成器件,包括上下两层有源层,其特征在于下层有源层(2)和上层有源层(1)均采用应变Si NMOSFET器件,两层之间通过SiO2介质层键合。
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