[发明专利]半导体装置有效

专利信息
申请号: 200810176909.7 申请日: 2008-07-25
公开(公告)号: CN101388391A 公开(公告)日: 2009-03-18
发明(设计)人: 津田信浩 申请(专利权)人: 株式会社瑞萨科技
主分类号: H01L27/02 分类号: H01L27/02;H01L23/528
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 闫小龙;刘宗杰
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明涉及一种半导体装置。CMOS反相器NT1、PT1包含在标准单元(51a)中。电源线电连接到CMOS反相器NT1、PT1,并且具有下层布线(32a)、(32b)以及上层布线(34c)、(34d)。下层布线(32a)、(32b)在沿着彼此相邻的标准单元(51a)的边界在边界上延伸。对于上层布线(34c)、(34d)来说,在平面图中与下层布线(32a)、(32b)相比位于标准单元(51a)的内侧。CMOS反相器NT1、PT1通过上层布线(34c)、(34d)电连接到下层布线(32a)、(32b)。由此,得到能够兼顾高速化以及高集成化这两者的半导体装置。
搜索关键词: 半导体 装置
【主权项】:
1. 一种半导体装置,具有所排列的多个标准单元,其中,具备:包含在上述标准单元中的功能元件;与上述功能元件电连接、并且具有下层布线以及上层布线的电源线,上述下层布线具有沿着彼此相邻的上述标准单元的边界在上述边界上延伸的部分,上述上层布线具有在平面图中与上述下层布线相比位于上述标准单元的内侧的部分,上述功能元件通过上述上层布线电连接到上述下层布线。
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