[发明专利]数据验证方法和半导体存储器无效
| 申请号： | 200810088168.7 | 申请日： | 2008-01-23 |
| 公开（公告）号： | CN101256838A | 公开（公告）日： | 2008-09-03 |
| 发明（设计）人： | 姜东求 | 申请（专利权）人： | 三星电子株式会社 |
| 主分类号： | G11C16/34 | 分类号： | G11C16/34 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人： | 邵亚丽 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 韩国;KR |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 公开了一种存储多位写入数据的半导体存储器设备，以及验证编程到存储器单元的数据的相关方法。该方法将从写入数据中选择的写入数据参考位与表示想要的写入数据位值的相应的外部数据位进行比较，并且仅当写入数据参考位与相应的外部数据位之间的比较结果为肯定时，才验证从写入数据中选择的目标位。 | ||
| 搜索关键词： | 数据 验证 方法 半导体 存储器 | ||
【主权项】：
1.一种验证被编程到多级存储器单元的多位写入数据的方法，该方法包括：将从被编程到存储器单元的写入数据中选择的写入数据参考位与表示想要的写入数据位值的相应的外部数据位进行比较；以及仅当写入数据参考位与相应的外部数据位之间的比较结果为肯定时，验证从写入数据中选择的、除写入数据参考位之外的目标位。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于三星电子株式会社，未经三星电子株式会社许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/200810088168.7/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种塞克硝唑水溶性盐及其制备方法
- 下一篇：高压放电灯
- 数据显示系统、数据中继设备、数据中继方法、数据系统、接收设备和数据读取方法
- 数据记录方法、数据记录装置、数据记录媒体、数据重播方法和数据重播装置
- 数据发送方法、数据发送系统、数据发送装置以及数据结构
- 数据显示系统、数据中继设备、数据中继方法及数据系统
- 数据嵌入装置、数据嵌入方法、数据提取装置及数据提取方法
- 数据管理装置、数据编辑装置、数据阅览装置、数据管理方法、数据编辑方法以及数据阅览方法
- 数据发送和数据接收设备、数据发送和数据接收方法
- 数据发送装置、数据接收装置、数据收发系统、数据发送方法、数据接收方法和数据收发方法
- 数据发送方法、数据再现方法、数据发送装置及数据再现装置
- 数据发送方法、数据再现方法、数据发送装置及数据再现装置
