[发明专利]包括通孔的结构及其制造方法有效

专利信息
申请号: 200810074179.X 申请日: 2008-02-27
公开(公告)号: CN101257000A 公开(公告)日: 2008-09-03
发明(设计)人: 丹尼尔·C·埃德尔斯坦;野上毅;王平川;王允愈;杨智超 申请(专利权)人: 国际商业机器公司
主分类号: H01L23/522 分类号: H01L23/522;H01L21/768
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 代理人: 张波
地址: 美国纽*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 发明提供一种结构及相关方法,该结构包括在铜布线和介电层的无衬界面处的难熔金属环。在一实施例中,一结构包括:铜布线,与其上的介电层具有无衬界面;通孔,从该铜布线向上延伸穿过该介电层;以及难熔金属环,从该通孔的侧面部分沿该无衬界面延伸。难熔金属环通过改善通孔周围的界面来防止电迁移造成的狭缝空缺,并防止空缺成核出现在通孔附近。另外,在通孔和介电层无衬界面附近存在空缺时,难熔金属环提供电冗余。
搜索关键词: 包括 结构 及其 制造 方法
【主权项】:
1.一种结构,包括:金属布线,与其上的介电层具有无衬界面;通孔,从该金属布线向上延伸穿过该介电层;以及难熔金属环,从该通孔的侧面部分沿着该无衬界面延伸。
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