[发明专利]一种相变纳米晶体管单元器件及其制作方法有效

专利信息
申请号: 200810037819.X 申请日: 2008-05-22
公开(公告)号: CN101587905A 公开(公告)日: 2009-11-25
发明(设计)人: 周伟民;宋志棠;钮晓鸣;刘彦伯;闵国全;李小丽;万永中;张静;封松林 申请(专利权)人: 上海市纳米科技与产业发展促进中心;中国科学院上海微系统与信息技术研究所
主分类号: H01L27/24 分类号: H01L27/24;H01L21/822;G11C11/56;G11C16/02
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 200237上海市*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明是关于纳米同轴环绕栅晶体管相变存储器单元器件及其纳米加工方法。其特征在于:与传统薄膜场效应晶体管(MOSFET)不同的是,在柱(线)状的相变材料周围沉积结缘层后再制作环绕栅,即为同轴环绕栅,作为晶体管的栅极,在柱(线)状相变材料的两端制作源极和漏极。这样的结构即为纳米同轴环绕栅相变存储器(Coaxial Surrounding Gate phase changememory-CSGPCM)。本发明的显著特点是采用纳米同轴环绕栅作为栅极,来调节相变材料沟道电流,实现相变存储和晶体管特性,极大地提高集成密度,从而实现了低压、低功耗的相变存储功能。
搜索关键词: 一种 相变 纳米 晶体管 单元 器件 及其 制作方法
【主权项】:
1.一种相变晶体管器件单元及其制作方法,其特征在于:在垂直于Si衬底的金属上(源极Source)制作相变阵列材料,用CVD方法蒸发介质材料,用电子束蒸发栅层(栅极Gate),形成了相变材料-介质层-栅层同轴结构。在相变材料顶端沉积金属层(漏极Drain);
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