[发明专利]为MOSFET开关降低插入损耗并提供掉电保护的方法有效

专利信息
申请号: 200780012770.6 申请日: 2007-02-08
公开(公告)号: CN101421925A 公开(公告)日: 2009-04-29
发明(设计)人: M·J·米斯克;J·斯图兹 申请(专利权)人: 快捷半导体有限公司
主分类号: H03K17/06 分类号: H03K17/06;H03K17/16;H03K17/687
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人: 李镇江
地址: 美国*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 公开了包括单个或并联相反极性FET的FET开关,该开关具有从内部功率轨驱动的阱。在一种情况下,该内部功率轨通过其它驱动FET开关逻辑耦接到正电源或信号电平中较高的一个,其中PMOS FET开关的阱将不允许漏极/源极到阱的二极管被正向偏置。在第二种情况下,第二功率轨逻辑耦接到输入信号或地中较低的一个,其中NMOS FET的阱将不允许漏极/源极到阱的二极管被正向偏置。
搜索关键词: mosfet 开关 降低 插入损耗 提供 掉电 保护 方法
【主权项】:
1、一种开关,包括:具有栅极、源极、漏极和阱的第一场效应晶体管FET,其中当该第一FET导通时,输入信号在漏极或源极上被接收,而输出信号分别给出到源极或漏极;第一内部功率轨;第二FET,布置成使得当第一FET截止时,该第二FET导通,从而将第一FET的阱耦接到第一内部功率轨;第三FET,当输入信号变低时,该第三FET将内部功率轨耦接到正电源;及第四FET,当正电源变低时,该第四FET将内部功率轨耦接到输入信号,其中第一FET的阱将维持在正电源或者A输入信号中较高的一个。
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