[发明专利]像素结构的制作方法无效

专利信息
申请号: 200710181843.6 申请日: 2007-10-19
公开(公告)号: CN101140913A 公开(公告)日: 2008-03-12
发明(设计)人: 林汉涂;杨智钧;黄明远;石志鸿;廖达文;蔡佳琪 申请(专利权)人: 友达光电股份有限公司
主分类号: H01L21/84 分类号: H01L21/84;H01L21/768;H01L21/336;H01L21/28;H01L21/268;G02F1/1362
代理公司: 隆天国际知识产权代理有限公司 代理人: 陈晨
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 一种利用激光剥离工艺制作像素结构的方法。此制作方法利用激光剥离工艺依序进行栅极、沟道层、源极、漏极、保护层以及像素电极的制作。由于此制作方法并非采用光刻蚀刻工艺,因此可以减少冗长的光掩模工艺,如光致抗蚀剂涂布、软烤、硬烤、曝光、显影、蚀刻、光致抗蚀剂剥除等。此制作方法简化工艺并降低制作成本。
搜索关键词: 像素 结构 制作方法
【主权项】:
1.一种像素结构的制作方法,包括:提供基板;形成第一导电层于该基板上;提供第一掩模于该第一导电层上方,且该第一掩模暴露出该第一导电层的一部分;使用激光经由该第一掩模照射该第一导电层,以移除该第一掩模所暴露的部分该第一导电层,而形成栅极;形成栅绝缘层于该基板上,以覆盖该栅极;形成半导体层于该栅绝缘层上;提供第二掩模于该半导体层上方,且该第二掩模暴露出该半导体层的一部分;使用激光经由该第二掩模照射该半导体层,以移除该第二掩模所暴露的部分半导体层,而形成沟道层;形成第二导电层于该沟道层以及该栅绝缘层上;提供第三掩模于该第二导电层上方,且该第三掩模暴露出该第二导电层的一部分;使用激光经由该第三掩模照射该第二导电层,以在该栅极两侧的该沟道层上形成源极以及漏极,其中该栅极、该沟道层、该源极以及该漏极构成薄膜晶体管;形成保护层于该栅绝缘层与该薄膜晶体管上;提供第四掩模于该保护层上方,且该第四掩模暴露出该保护层的一部分;使用激光经由该第四掩模照射该保护层,以在该保护层中形成接触开口,且该接触开口暴露出该漏极的一部分;形成第三导电层,以覆盖该保护层;提供第五掩模于该第三导电层上方,且该第五掩模暴露出该第三导电层的一部分;以及使用激光经由该第五掩模照射该第三导电层,以使剩余的该第三导电层形成像素电极,其中该像素电极通过该接触开口连接至该漏极。
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