[发明专利]像素结构的制作方法无效
申请号: | 200710181843.6 | 申请日: | 2007-10-19 |
公开(公告)号: | CN101140913A | 公开(公告)日: | 2008-03-12 |
发明(设计)人: | 林汉涂;杨智钧;黄明远;石志鸿;廖达文;蔡佳琪 | 申请(专利权)人: | 友达光电股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/84 | 分类号: | H01L21/84;H01L21/768;H01L21/336;H01L21/28;H01L21/268;G02F1/1362 |
代理公司: | 隆天国际知识产权代理有限公司 | 代理人: | 陈晨 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 一种利用激光剥离工艺制作像素结构的方法。此制作方法利用激光剥离工艺依序进行栅极、沟道层、源极、漏极、保护层以及像素电极的制作。由于此制作方法并非采用光刻蚀刻工艺,因此可以减少冗长的光掩模工艺,如光致抗蚀剂涂布、软烤、硬烤、曝光、显影、蚀刻、光致抗蚀剂剥除等。此制作方法简化工艺并降低制作成本。 | ||
搜索关键词: | 像素 结构 制作方法 | ||
【主权项】:
1.一种像素结构的制作方法,包括:提供基板;形成第一导电层于该基板上;提供第一掩模于该第一导电层上方,且该第一掩模暴露出该第一导电层的一部分;使用激光经由该第一掩模照射该第一导电层,以移除该第一掩模所暴露的部分该第一导电层,而形成栅极;形成栅绝缘层于该基板上,以覆盖该栅极;形成半导体层于该栅绝缘层上;提供第二掩模于该半导体层上方,且该第二掩模暴露出该半导体层的一部分;使用激光经由该第二掩模照射该半导体层,以移除该第二掩模所暴露的部分半导体层,而形成沟道层;形成第二导电层于该沟道层以及该栅绝缘层上;提供第三掩模于该第二导电层上方,且该第三掩模暴露出该第二导电层的一部分;使用激光经由该第三掩模照射该第二导电层,以在该栅极两侧的该沟道层上形成源极以及漏极,其中该栅极、该沟道层、该源极以及该漏极构成薄膜晶体管;形成保护层于该栅绝缘层与该薄膜晶体管上;提供第四掩模于该保护层上方,且该第四掩模暴露出该保护层的一部分;使用激光经由该第四掩模照射该保护层,以在该保护层中形成接触开口,且该接触开口暴露出该漏极的一部分;形成第三导电层,以覆盖该保护层;提供第五掩模于该第三导电层上方,且该第五掩模暴露出该第三导电层的一部分;以及使用激光经由该第五掩模照射该第三导电层,以使剩余的该第三导电层形成像素电极,其中该像素电极通过该接触开口连接至该漏极。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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