[发明专利]半导体集成电路和测试方法有效
| 申请号： | 200710162801.8 | 申请日： | 2007-10-08 |
| 公开（公告）号： | CN101158707A | 公开（公告）日： | 2008-04-09 |
| 发明（设计）人： | 武井一弘;大槻浩一 | 申请（专利权）人： | 富士通株式会社 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R31/3185;G06F11/273;H01L21/822;H01L27/04 |
| 代理公司： | 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 | 代理人： | 赵淑萍 |
| 地址： | 日本神*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 提供了一种半导体集成电路和测试方法。半导体集成电路包括：输入/输出单元，其被包括于在传播延迟测试期间捕获的路径中，并且具有在输出总线上的输出级缓冲器；终端，其连接到输入/输出单元的输出总线和输入总线。外部负载或者测试设备能够连接到终端。输入/输出单元具有切换装置，其在第一路径和第二路径之间切换，第一路径在输出级缓冲器的输出侧环回，第二路径在输出级缓冲器的输入侧环回。在正常操作期间选择第一路径，在传播延迟测试期间选择第二路径。 | ||
| 搜索关键词： | 半导体 集成电路 测试 方法 | ||
【主权项】：
1.一种半导体集成电路，包括：输入/输出单元，所述输入/输出单元被包括于在传播延迟测试期间捕获的路径中，并且具有在输出总线上的输出级缓冲器；和终端，所述终端耦合到所述输入/输出单元的输出总线和输入总线，并且能够连接到外部负载或者测试设备，其中，所述输入/输出单元具有切换装置，所述切换装置在第一路径和第二路径之间切换，所述第一路径在所述输出级缓冲器的输出侧环回，所述第二路径在所述输出级缓冲器的输入侧环回，并且所述第一路径在正常操作期间被选择，所述第二路径在所述传播延迟测试期间被选择。
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