[发明专利]巴氏杆菌耐药性检测芯片无效

专利信息
申请号: 200710150234.4 申请日: 2007-11-20
公开(公告)号: CN101186946A 公开(公告)日: 2008-05-28
发明(设计)人: 金天明;李向阳;段县平;刘海学;毛景东;武迎红;程汉良;张伟 申请(专利权)人: 天津农学院
主分类号: C12Q1/68 分类号: C12Q1/68;C12Q1/04
代理公司: 天津伊加知识产权代理有限公司 代理人: 王念冬
地址: 300000天津市西*** 国省代码: 天津;12
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摘要: 一种巴氏杆菌耐药性检测芯片,涉及检测巴氏杆菌耐药性的芯片。它包括经过修饰的载玻片,该载玻片上固定一系列寡核苷酸点阵探针,其中:载玻片为醛基修饰基片,预制合成的寡核苷酸探针点制于醛基修饰的玻片上,探针为针对磺胺耐药基因sulI、sulII、链霉素耐药基因strA、strBy、氯霉素耐药基因CatB2和四环素耐药基因TetG及其突变基因设计的探针。本案以从巴氏杆菌中扩增得到的耐药基因为靶基因,构建了耐药基因的基因检测芯片,为巴氏杆菌耐药基因的高通量、并行化、自动化和快速检测奠定了基础。
搜索关键词: 杆菌 耐药性 检测 芯片
【主权项】:
1.一种巴氏杆茵耐药性检测芯片,包括经过修饰的载玻片,该载玻片上固定一系列寡核苷酸点阵探针,其特征在于:所述载玻片为醛基修饰基片,预制合成的寡核苷酸探针点制于醛基修饰的玻片上,所述探针为针对磺胺耐药基因sulI、sulII、链霉素耐药基因strA、strBy、氯霉素耐药基因CatB2和四环素耐药基因TetG及其突变基因设计的探针。
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