[发明专利]巴氏杆菌耐药性检测芯片

权利要求书

1.一种巴氏杆茵耐药性检测芯片，包括经过修饰的载玻片，该载玻片上固定一系列寡核苷酸点阵探针，其特征在于：所述载玻片为醛基修饰基片，预制合成的寡核苷酸探针点制于醛基修饰的玻片上，所述探针为针对磺胺耐药基因sulI、sulII、链霉素耐药基因strA、strBy、氯霉素耐药基因CatB2和四环素耐药基因TetG及其突变基因设计的探针。

2.如权利要求1所述的巴氏杆茵耐药性检测芯片，其特征在于：所述探针点4个一重复；每个探针长度设计为15-30bp。

3.如权利要求1或2所述的巴氏杆茵耐药性检测芯片，其特征在于：针对磺胺耐药基因sulII的突变位点合成的探针是：

探针号序列P₁₃：5′-GGA TCC CAT CGC GGC-3′P₁₄：5′-AAG CTT CCG GTA TCA-3′

4.如权利要求3所述的巴氏杆茵耐药性检测芯片，其特征在于：针对链霉素耐药基因strA的突变位点合成的探针是：

探针号序列P₁₅：5′-GGA TCC TAT GGC GCC-3′P₁₆：5′-AAG CTT GTG CTG GAC-3′

5.如权利要求1、2、4之一所述的巴氏杆茵耐药性检测芯片，其特征在于：合成所述探针的引物序列为：

探针号序列P₁：5′-GGA TCC GCC CCC ATG TCG CTC-3′P₂：5′-AAG CTT CAATAAATC TCT TGC-3′P3：5′-GGA TCC GCC CCC ATG AAT AAA TCG CTC-3′P3：5′-GGA TCC GCC CCC ATG AAT AAA TCG CTC-3′P₄：5′-AAG CTT GTG CAG TTAACG AAT TCT TGC-3′P₅：5′-GGATCC GCC CCC ATGAATAAATCG CTC-3′P6：5′-AAG CTT GTG CAG TTA ACG AAT TCT TGC-3′P₇：5′-GGA TCC ATG TTC ATG CCG-3′P₈：5′-AAG CTT GAT ATC AAG CGA-3′P₉：5′-GGA TCC TAC AGG CTA GCA-3′P₁₀：5′-AAG CTTAAAATT TGTACC-3′P₁₁：5′-GGA TCC TTA AAT TGG-3′P₁₂：5′-AAG CTT GGC GTC GAG-3′