[发明专利]晶圆清洗设备及其方法有效

专利信息
申请号: 200710088297.1 申请日: 2007-03-22
公开(公告)号: CN101131925A 公开(公告)日: 2008-02-27
发明(设计)人: 黄琮民;魏正泉;江明晁 申请(专利权)人: 台湾积体电路制造股份有限公司
主分类号: H01L21/306 分类号: H01L21/306;H01L21/67;H01L21/00;B08B3/08
代理公司: 北京中原华和知识产权代理有限责任公司 代理人: 寿宁;张华辉
地址: 中国台湾新竹市*** 国省代码: 中国台湾;71
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明是有关一种晶圆清洗设备及其方法。该清洗设备包括:槽体、基台、至少一第一侧壁、上盖及排气装置。基台位于槽体之中;第一侧壁设于槽体中,并围绕基台;上盖设于槽体中,并位于基台上,可操作用以在基台和第一侧壁间区隔出第一空间;排气装置联通位于基台和第一侧壁间第一空间。该清洗晶圆方法包括:将放有晶圆的基台置于密闭容器中,密闭容器位于反应槽中;藉第一喷嘴将第一化学品喷洒在基材表面;及藉由第二喷嘴将第二化学品喷洒在基材表面,以避免在第一、第二喷嘴中形成由第一、第二化学品因化学反应所生成的产物。本发明在清洗槽与清洗台间设有密闭空间,可防止晶圆清洗制程中液态硫酸铵残留结晶,而造成晶圆上集成电路短路或产生开口,非常适于实用。
搜索关键词: 清洗 设备 及其 方法
【主权项】:
1.一种晶圆清洗设备,其特征在于其包括:一槽体;一基台,位于该槽体之中;至少一第一侧壁,设置于该槽体之中,并围绕该基台;一上盖,设置于该槽体之中,并位于该基台之上,可操作用以在该基台和该第一侧壁之间,区隔出一第一空间;以及一排气装置,联通位于该基台和该第一侧壁之间的该第一空间。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于台湾积体电路制造股份有限公司,未经台湾积体电路制造股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200710088297.1/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top