[发明专利]一种氮化镓基发光二极管外延片结构及其制备方法有效

专利信息
申请号: 200710009956.8 申请日: 2007-12-10
公开(公告)号: CN101183697A 公开(公告)日: 2008-05-21
发明(设计)人: 刘宝林;张保平;朱丽虹 申请(专利权)人: 厦门大学
主分类号: H01L33/00 分类号: H01L33/00
代理公司: 厦门南强之路专利事务所 代理人: 马应森
地址: 361005福*** 国省代码: 福建;35
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摘要: 一种氮化镓基发光二极管外延片结构及其制备方法,涉及一种发光二极管。提供一种出光效率高、晶体质量好的氮化镓基发光二极管外延片结构及其制备方法。设有衬底、GaN缓冲层、第1掺硅GaN层、介质层、第2掺硅GaN层,InGaN/GaN多量子阱、掺镁AlGaN层和掺镁GaN层,并从下至上设于衬底上。将(0001)面的蓝宝石衬底装入反应室,在H2气氛下热处理;降温生长GaN缓冲层;在GaN缓冲层上生长第1掺硅GaN层,降温取出样品;在样品上沉积介质层,沿第1掺硅GaN层的<100><110>方向刻出窗口作为图形衬底,样品清洗后外延生长:整个外延生长完成后,将外延片退火。
搜索关键词: 一种 氮化 发光二极管 外延 结构 及其 制备 方法
【主权项】:
1.一种氮化镓基发光二极管外延片结构,其特征在于设有蓝宝石衬底、未掺杂的GaN缓冲层、第1掺硅GaN层、介质层、第2掺硅GaN层,3~5个周期的InGaN/GaN多量子阱、掺镁AlGaN层和掺镁GaN层,从下至上未掺杂的GaN缓冲层、第1掺硅GaN层、介质层、第2掺硅GaN层,3~5个周期的InGaN/GaN多量子阱、掺镁AlGaN层和掺镁GaN层依次设在蓝宝石衬底上。
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