[发明专利]半导体处理的方法和装置无效

专利信息
申请号: 200680026489.3 申请日: 2006-07-14
公开(公告)号: CN101341276A 公开(公告)日: 2009-01-07
发明(设计)人: R·塔库尔;M·斯普林特 申请(专利权)人: 应用材料股份有限公司
主分类号: C23C16/00 分类号: C23C16/00
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 代理人: 陆嘉
地址: 美国加利*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 发明提供用于制造半导体的方法及设备,其包含至少两个具有数个外壁的传送处理室、至少一控制处理室接附至该传送处理室、至少一负载锁定处理室接附至所述传送处理室的所述壁面、以及至少五个制程处理室接附至该传送处理室的该壁面。本发明并提供一种沉积高介电常数薄膜的方法及设备,其至少包含于第一制程处理室的一基材上,沉积基底氧化物;对至少一第二制程处理室中的基材表面,提供去耦合等离子硝化;于第三制程处理室中,对该基材表面进行退火;以及于至少一第四制程处理室中,沉积多晶硅,其中该第一、第二、第三及第四制程处理室是与一共同内部处理室流体连通。
搜索关键词: 半导体 处理 方法 装置
【主权项】:
1.一种用于制造半导体的集成制程工具,其至少包含:第一制程工具,具有至少一传送处理室以及至少一负载锁定,该负载锁定是连接该传送处理室;第二制程工具,具有至少一传送处理室;以及至少一中间处理室,连接至该第一制程工具以及该第二制程工具;其中至少五个制程处理室是连接至该传送处理室。
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