[发明专利]半导体晶片周缘的研磨装置及方法有效

专利信息
申请号: 200680013140.6 申请日: 2006-04-18
公开(公告)号: CN101164148A 公开(公告)日: 2008-04-16
发明(设计)人: 高桥圭瑞;伊藤贤也;白樫充彦;井上和之;山口健二;关正也;佐藤觉;渡边淳;加藤健二;田村淳;浅川荘一 申请(专利权)人: 日本微涂料株式会社;株式会社荏原制作所
主分类号: H01L21/304 分类号: H01L21/304;B24B9/00
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 温大鹏;杨松龄
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明提供一种用于研磨半导体晶片的周缘部分的装置,其包括:晶片载置台,用于保持晶片;晶片载置台单元,包括用于使晶片载置台转动的装置,使晶片载置台在与晶片载置台的表面相同的平面内进行往复转动运动,并平行于该表面移动晶片载置台;凹口研磨部分,用于研磨晶片上的凹口;以及斜面研磨部分,用于研磨晶片的斜面部分。将纯水向晶片供给以防止晶片在被从凹口研磨部分输送到斜面研磨部分时变干燥。
搜索关键词: 半导体 晶片 周缘 研磨 装置 方法
【主权项】:
1.一种用于研磨半导体晶片的周缘部分的装置,所述装置包括:晶片载置台,具有用于保持所述半导体晶片的表面;晶片载置台单元,包括用于使所述晶片载置台转动的载置台转动部分、和用于使所述晶片载置台在与所述表面相同的平面内进行往复转动运动的往复运动部分;载置台移动部分,用于使所述晶片载置台平行于所述表面移动;以及两个或更多个研磨部分,用于研磨由所述晶片载置台保持着的所述半导体晶片的周缘部分。
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