[发明专利]半导体晶片周缘的研磨装置及方法有效
申请号: | 200680013140.6 | 申请日: | 2006-04-18 |
公开(公告)号: | CN101164148A | 公开(公告)日: | 2008-04-16 |
发明(设计)人: | 高桥圭瑞;伊藤贤也;白樫充彦;井上和之;山口健二;关正也;佐藤觉;渡边淳;加藤健二;田村淳;浅川荘一 | 申请(专利权)人: | 日本微涂料株式会社;株式会社荏原制作所 |
主分类号: | H01L21/304 | 分类号: | H01L21/304;B24B9/00 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 温大鹏;杨松龄 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明提供一种用于研磨半导体晶片的周缘部分的装置,其包括:晶片载置台,用于保持晶片;晶片载置台单元,包括用于使晶片载置台转动的装置,使晶片载置台在与晶片载置台的表面相同的平面内进行往复转动运动,并平行于该表面移动晶片载置台;凹口研磨部分,用于研磨晶片上的凹口;以及斜面研磨部分,用于研磨晶片的斜面部分。将纯水向晶片供给以防止晶片在被从凹口研磨部分输送到斜面研磨部分时变干燥。 | ||
搜索关键词: | 半导体 晶片 周缘 研磨 装置 方法 | ||
【主权项】:
1.一种用于研磨半导体晶片的周缘部分的装置,所述装置包括:晶片载置台,具有用于保持所述半导体晶片的表面;晶片载置台单元,包括用于使所述晶片载置台转动的载置台转动部分、和用于使所述晶片载置台在与所述表面相同的平面内进行往复转动运动的往复运动部分;载置台移动部分,用于使所述晶片载置台平行于所述表面移动;以及两个或更多个研磨部分,用于研磨由所述晶片载置台保持着的所述半导体晶片的周缘部分。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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