[发明专利]像素结构及其制作方法有效
申请号: | 200610162703.X | 申请日: | 2006-11-23 |
公开(公告)号: | CN101192578A | 公开(公告)日: | 2008-06-04 |
发明(设计)人: | 黄隽尧;王裕芳;傅光正 | 申请(专利权)人: | 中华映管股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/84 | 分类号: | H01L21/84;H01L21/768;H01L27/12;H01L23/522 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 | 代理人: | 陈亮 |
地址: | 台湾省台北*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开了一种像素结构的制造方法,此方法首先于基板上形成一图案化第一导电层,其包括一栅极以及与其电性连接的一扫描配线;之后,于基板上形成一栅绝缘层;于栅极上方的栅绝缘层上形成一沟道层以及一欧姆接触层;接着,于基板上形成一保护层,并于保护层中形成源极接触孔与漏极接触孔,以暴露出欧姆接触层;最后,于保护层上形成一图案化第二导电层,其包括一源极与一漏极、一数据配线以及一像素电极,源极与漏极分别透过源极接触孔以及漏极接触孔与欧姆接触层电性连接,而源极与数据配线电性连接,且漏极与像素电极电性连接。 | ||
搜索关键词: | 像素 结构 及其 制作方法 | ||
【主权项】:
1.一种像素结构的制作方法,包括:形成一图案化第一导电层于一基板上,该图案化第一导电层包括一栅极与一扫描配线,其中该栅极与该扫描配线电性连接;依序形成一栅绝缘层、一沟道材料层、一欧姆接触材料层以及一光阻层于该基板上,其中该栅绝缘层覆盖该图案化第一导电层;利用一光掩膜图案化该光阻层,并以该图案化的光阻层为掩膜对该沟道材料层与该欧姆接触材料层进行一背沟道蚀刻制程,以于该栅极上方定义出一沟道层以及一欧姆接触层;形成一保护层于该基板上,并于该保护层形成一源极接触孔及一漏极接触孔,以暴露出该欧姆接触层;以及于该保护层上形成一图案化第二导电层,该图案化第二导电层包括一源极与一漏极、一数据配线以及一像素电极,其中该源极与该漏极分别透过该源极接触孔以及该漏极接触孔与该欧姆接触层电性连接,该源极与该数据配线电性连接,且该漏极与该像素电极电性连接。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中华映管股份有限公司,未经中华映管股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200610162703.X/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:金黄色避孕套
- 下一篇:执行器末端快速切换装置
- 同类专利
- 专利分类
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造