[发明专利]感测式封装件及其制法无效
申请号: | 200610132240.2 | 申请日: | 2006-10-12 |
公开(公告)号: | CN101162698A | 公开(公告)日: | 2008-04-16 |
发明(设计)人: | 张泽文;詹长岳;黄建屏;黄致明;萧承旭 | 申请(专利权)人: | 矽品精密工业股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/50 | 分类号: | H01L21/50;H01L21/56;H01L27/146;H01L23/10;H01L23/28 |
代理公司: | 北京纪凯知识产权代理有限公司 | 代理人: | 程伟 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 一种感测式封装件及其制法,主要是在基板上接置感测式晶片,并使该感测式晶片通过焊线电性连接至该基板,接着于该感测式晶片上接着一表面设有覆盖层另一表面设有粘着层的透光体,接着再进行封装模压制造方法,以直接形成一包覆该透光体的封装胶体,之后通过该覆盖层与封装胶体的接合性大于该覆盖层与透光体的接合性,从而可同时移除该覆盖层及遮覆其上的封装胶体,进而外露出该透光体,以供光线能通过该透光体而为该感测式晶片所撷取,从而省去使用现有的阻拦结构,以提供具轻薄短小特性的感测式封装件,同时增加制造方法可靠性及降低成本。 | ||
搜索关键词: | 感测式 封装 及其 制法 | ||
【主权项】:
1.一种感测式封装件的制法,包括:将具有相对的主动面及非主动面的感测式晶片接置于基板上,其中该感测式晶片是以其非主动面接置于该基板上,并通过焊线电性连接该感测式晶片的主动面与该基板;将具相对的第一表面及第二表面的透光体接着于该感测式晶片上,其中该第一表面设有一覆盖层,该第二表面设有一环状粘着层,以将该透光体通过该环状粘着层接置于该感测式晶片主动面上;进行封装模压制造方法,以于该基板上形成包覆该感测式晶片、焊线及透光体的封装胶体;依预定形成的封装件外围尺寸进行切割;以及移除位于该覆盖层上的封装胶体部分及该覆盖层,以外露出该透光体,进而制得感测式封装件。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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