[发明专利]场效应晶体管及其制作方法有效

专利信息
申请号: 200610094648.5 申请日: 2006-06-20
公开(公告)号: CN1885562A 公开(公告)日: 2006-12-27
发明(设计)人: 艾德华·约瑟夫·诺瓦克;马修·约瑟夫·布雷特维奇;布伦特·阿兰·安德森 申请(专利权)人: 国际商业机器公司
主分类号: H01L29/78 分类号: H01L29/78;H01L29/423;H01L21/336;H01L21/28
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人: 王永刚
地址: 美国*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 所公开的是一种具有背栅的三栅场效应晶体管及其制作方法。具体地说,背栅被组合到鳍的下部中。三栅结构被形成在鳍上,并被电隔离于背栅。此背栅能够被用来控制FET的阈值电压。在一个实施方案中,背栅延伸到p型硅衬底中的n阱。到n阱的接触使得电压能够被施加到背栅。n阱与p型衬底之间产生的二极管将流过n阱的电流隔离于衬底上的其它器件,使得背栅能够被独立地偏置。在另一实施方案中,背栅延伸到p型硅衬底上的绝缘层上的n型多晶硅层。到n型多晶硅层的接触使得电压能够被施加到背栅。延伸通过多晶硅层到绝缘层的沟槽隔离结构,将流过多晶硅层的电流隔离于硅衬底上的其它器件。
搜索关键词: 场效应 晶体管 及其 制作方法
【主权项】:
1.一种场效应晶体管,它包含:衬底;所述衬底上的鳍,其中,所述鳍包含:上部半导体部分;和下部背栅部分;以及邻近所述鳍的正面栅。
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